[发明专利]光学设备及光学定址方法有效
申请号: | 201210277405.0 | 申请日: | 2012-08-06 |
公开(公告)号: | CN103033129A | 公开(公告)日: | 2013-04-10 |
发明(设计)人: | 刁国栋;朱朝居;吴国瑞;黄戴廷;李源钦;蔡荣源 | 申请(专利权)人: | 财团法人工业技术研究院 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁挥;常大军 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 设备 定址 方法 | ||
1.一种光学设备,用于定址检体,检体位于具有检体区及编码区的待测物的该检体区,其特征在于,该光学设备包括:光学装置、控制器及处理模块,其中,
该光学装置,包括:
光源;
检体检测装置,包括第一物镜及第一感测器,该光源的光束利用该第一物镜聚焦于该检体区的检体上;及
位置检测装置,包括第二物镜及第二感测器,该光源的光束利用该第二物镜聚焦于该编码区上;
该控制器,用以控制该光源的光束聚焦于该检体区的多个检测位置以产生多个第一光信号输出至该第一感测器,且控制该光源的光束聚焦于该编码区的多个编码位置以产生多个第二光信号输出至该第二感测器,每该检测位置与对应的该编码位置之间的相对位置相同;
该处理模块,用以根据该些第一光信号及该些第二光信号,以得到该检体的定址信息。
2.根据权利要求1所述的光学设备,其特征在于,该光源包括:
第一光源,提供具有第一波长的光束;以及
第二光源,提供具有第二波长的光束,该些第一光信号由该第一光源的光束聚焦于该些检测位置后产生,该些第二光信号由该第二光源的光束聚焦于该些编码位置后产生。
3.根据权利要求1所述的光学设备,其特征在于,该光源的光束聚焦于该检体后产生该第一光信号,该光源的光束聚焦于该编码区后产生该第二光信号,第二光信号的波长与该第一光信号的波长不相同。
4.根据权利要求1所述的光学设备,其特征在于,该处理模块包括:
处理单元,耦接至该第一感测器及该第二感测器,以接收该些第一光信号及该些第二光信号,并据以得到检体信息及对应该检体信息的位置信息;
运算器,耦接至该控制器及该处理单元,用以命令该控制器调整该光源的光束的聚焦位置,并接收该位置信息以计算该定址信息;以及
储存单元,耦接至该运算器,用以储存该定址信息。
5.根据权利要求1所述的光学设备,其特征在于,该光学装置还包括:
一第一分光元件,用以将该光源的光束传递至该检体区,且将该些第一光信号传递至该第一感测器;以及
第二分光元件,用以将该光源的光束传递至该编码区,且将该些第二光信号传递至该第二感测器。
6.根据权利要求5所述的光学设备,其特征在于,该第一分光元件为双色分光镜。
7.根据权利要求5所述的光学设备,其特征在于,该第二分光元件为极化分光镜,该光学设备还包括:
四分之一波板,设置于该第二分光元件与该第二物镜之间。
8.根据权利要求1所述的光学设备,其特征在于,该些编码位置对应至多个微结构,该光源的光束聚焦于该些编码位置时,是经由该些微结构反射为该些第二光信号。
9.根据权利要求8所述的光学设备,其特征在于,该些微结构包括圆孔、长孔及沟轨至少一者。
10.根据权利要求1所述的光学设备,其特征在于,该些编码位置包括不同反射率或不同光学极化方向的多个位置编码信息。
11.根据权利要求1所述的光学设备,其特征在于,该检体区及该编码区相邻而设。
12.根据权利要求1所述的光学设备,其特征在于,该控制器包括致动器,该第一物镜及该第二物镜设置于该致动器上且受到该致动器的控制,沿垂直于该光源的光轴及平行于该光源的一光轴的方向移动。
13.根据权利要求1所述的光学设备,其特征在于,该控制器包括致动器,用以控制该待测物或该光学装置沿垂直于该光源的光轴及平行于该光源的光轴的方向移动。
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