[发明专利]通过元素的测量强度计算被干扰元素浓度的方法

权利要求书

1.一种通过元素的测量强度计算被干扰元素浓度的方法，其特征在于，该方法包括以下两种校正模型：

(1)谱线重叠校正模型： 其中，I_i为被干扰元素的测量强度，Ic为被干扰元素没有干扰时的净强度，K_j为重叠干扰系数，I_ij为第I块标准样品第j个具有叠加干扰性质的干扰元素的强度，m为同一块标准样品中可能的干扰元素的个数；

(2)谱线重叠-自吸校正模型： 其中，I_i为被干扰元素的测量强度，Ic为被干扰元素没有干扰时的净强度，I_ij为第I块标准样品第j个具有自吸干扰性质的干扰元素的强度，K_j＝l..m为自吸干扰系数；1为同一块标准样品中可能的叠加干扰元素的个数；I_il为第i个标准样品中第1个具有叠加干扰性质的干扰元素的强度，K_1＝1..l为叠加干扰系数。

2.根据权利要求1所述的通过元素的测量强度计算被干扰元素浓度的方法，其特征在于，所述谱线重叠校正模型的求解方法为：假设标准样品有n块，因此我们共有n组数据，根据加权最小二乘法，有：

设I_c＝C_i*K₀，其中C_i为第i块标准样品被干扰元素的浓度，K₀为没有干扰时的系数，I_ij为第I块标准样品第j个干扰元素的强度，K_j为重叠干扰校正系数，m为重叠干扰元素的个数，n为标准样品个数，则上式可写为

根据

得

可整理得到如下方程组

分别求解出系数K₀ K₁ K₂...K_m。然后将测量获得的干扰元素的强 度和被干扰元素的强度代入谱线重叠校正模型 计算出被干扰元素的净信号强度Ic。利用已知的标准样品通过拟合的方法求得经典模型C＝A*Ic³+B*Ic²+C*Ic+D中的系数A、B、C、D；再将待分析样品的Ic重新代入经典模型C＝A*Ic³+B*Ic²+C*Ic+求得分析样品中被干扰元素的含量C。

3.根据权利要求1所述的通过元素的测量强度计算被干扰元素浓度的方法，其特征在于，所述谱线重叠-自吸校正模型的求解方法为：假设标准样品有n块，因此我们共有n组数据，根据加权最小二乘法，有

设I_c＝C_i*K₀，其中C_i为第i块标准样品被干扰元素的浓度，K₀为没有干扰时的系数，则上式可写为

根据

得

可整理得如下方程组： 

分别求解出系数K₀ K₁ K₂...K_m。然后将测量获得的干扰元素的强度和被干扰元素的强度代入谱线重叠-自吸校正模型 计算出被干扰元素的净信号强度Ic。利用已知的标准样品通过拟合的方法求得经典模型C＝A*Ic³+B*Ic²+C*Ic+D中的系数A、B、C、D；再将待分析样品的Ic重新代入经典模型C＝A*Ic ³+B*Ic²+C*Ic+求得分析样品中被干扰元素的含量C。