[发明专利]超高亮度发光二极管及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201210287977.7 申请日: 2012-08-14
公开(公告)号: CN102779913A 公开(公告)日: 2012-11-14
发明(设计)人: 戴菁甫;张君逸;界晓菲 申请(专利权)人: 天津三安光电有限公司
主分类号: H01L33/10 分类号: H01L33/10;H01L33/02;H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300384 天津市*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 超高 亮度 发光二极管 及其 制备 方法
【说明书】:

技术领域

 本发明涉及一种发光二极管及其制备方法,更具体地是一种AlGaInP四元系高亮度发光二极管及其制作方法。

背景技术

近几年,AlGaInP四元系高亮度发光二极(light emitting diode, 简称LED)得到了广泛的应用,在各种显示系统、照明系统、汽车尾灯等领域起着越来越重要的作用。以(AlxGa11-x)0.5InP材料作为有源区的LED具有较高的内量子效率。对于传统设计的LED来说,有很多因素限制它的外量子效率:内部的全反射、金属电极的阻挡、GaAs等半导体材料对光的吸收。这些LED生长在吸光衬底上,而最终有很大一部分光被衬底吸收。所以对于这种传统的LED结构而言,即使内部的光电转化效率很高,它的外量子效率也不会很高。当前有很多种方法来提高LED出光的提取效率,如加厚窗口层、表面粗化、透明衬底、倒金字塔结构等。

请参考附图1,现有AlInGaP四元系LED结构中,GaP外延层120为光逃脱窗口层,同时也作为电流扩散传导的电流扩散层,在金属镜面键合结构配合吸光式基板中,若n侧面为出光面,理论上GaP外延层120厚度越厚对光逃脱及电流传导帮助越大。但在实务上,光借由镜面反射的传导路径却是越短越好,避免光在传导过程中散射损失,但GaP外延层作为欧姆接触层,当其厚度较薄的情况下又会面临电性问题。

发明内容

  本发明提供了一种超高亮度发光二极管及其制备方法,其解决了上述AlInGaP四元系LED结构中亮度与电性难以同时兼顾的问题。

本发明解决前述问题的技术方案为:一种超高亮度发光二极管,包括:导电基板,其具有两个主表面;反射层,形成于所述导电基板的第一主表面上;p-GaP窗口层,形成于所述反射层之上,其厚度小于或等2um;p型限制层,形成于所述p-GaP窗口层之上;发光层,形成于所述p型限制层之上;n型限制层,形成于所述发光层之上;n电极,形成于所述n型限制层之上;p电极,形成于所述导电基板的第二主表面上。

优选地,所述导电基板的材料可选用Si、Ge或GaAs等半导体材料,可也选用Cu、Mo、W、CuW等金属。所述发光二极管还包括n电极和p电极,其中n电极形成于所述n型限制层之上,p电极形成于所述导电基板的背面;所述p型GaP窗口层为C元素掺杂以达到阻绝金属扩散效果,其掺杂浓度大于1×1018cm-3

前述超高亮度发光二极管的制作方法,包括步骤:提供一生长衬底,在其上依次外延生长n型限制层、发光层和p型限制层,构成发光外延层;在发光外延层上沉积一p型GaP窗口层,其厚度小于或等于2um;在p型GaP窗口层上形成反射层;提供一基板,基板与反射层粘接;移除基板。

在上述制作方法中,还包括分别在n型限制层和基板背面上制作n、p电极。在本发明的优选实施例中,所述p型GaP窗口层为C元素掺杂,其掺杂浓度大于1×1018cm-3,可通过在p型GaP窗口层外延生长过程通过输入含C元素的物质引入C杂质,也可以在高浓度C掺杂的生长环境下,低温外延生长,从而获得结构性高浓度C掺杂GaP窗口层。

本发明公开的超高亮度发光二极,使用金属镜面键合结构搭配吸光式基板,以n 侧面为出光面,GaP窗口层很薄(小于2um),减少光散射损失。采用本发明获得的发光二极管,光型较为集中,特别适合指向性光源应用。进一步地在GaP窗口层中加入高浓度的C掺杂,达到阻绝金属扩散效果,可解决高温熔合后漏电问题。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本发明的实施例一起用于解释本发明,并不构成对本发明的限制。此外,附图数据是描述概要,不是按比例绘制。

图1为传统AlInGaP四元系发光二极管的结构示意图,其窗口层的厚度大于5um。

图2为本发明所述的AlInGaP四元系发光二极管的结构示意图,其窗口层的厚度小于2um。

图中各标号表示:

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