[发明专利]电子设备的测试方法、测试装置、测试工装和测试系统

权利要求书

1.一种电子设备的测试方法，其特征在于，包括：

在电子设备执行测试命令后，采集所述电子设备的图像，以得到对比图像；

提取所述对比图像的信息；

比较提取到的信息和预存的标准信息，其中，所述标准信息包括所述电子设备执行所述测试命令后的正确执行结果；以及

根据比较结果输出所述电子设备执行所述测试命令的结果。

2.根据权利要求1所述的电子设备的测试方法，其特征在于，当所述电子设备为显示器时，在采集所述电子设备的图像之前，所述方法还包括：

控制所述显示器的背光源处于长亮的状态。

3.根据权利要求2所述的电子设备的测试方法，其特征在于，提取所述对比图像的有效信息包括：

对所述对比图像通过阈值化函数进行阈值化，其中，阈值化结果为1的像素点为所述对比图像中第一部分的像素点，阈值化结果为0的像素点为所述对比图像中第二部分的像素点，所述第一部分为所述显示器的背光区域对应的图像部分，

所述第二部分为所述对比图像中除所述第一部分之外的部分；

读取所述对比图像各像素点的像素值，将所述第二部分中所有像素点的像素值替换为0；

对像素替换后的所述对比图像进行颗粒滤波和填充处理；

通过边缘检测处理颗粒滤波和填充处理后的所述对比图像，以得到所述第一部分在所述对比图像中的坐标范围；以及

对所述坐标范围内的图像进行图像处理，以得到所述对比图像的有效信息。

4.根据权利要求1所述的电子设备的测试方法，其特征在于，所述电子设备为控制主板时，所述控制主板的信号输出端连接有显示单元，采集所述电子设备的图像包括：

采集所述显示单元的图像。

5.根据权利要求4所述的电子设备的测试方法，其特征在于，所述显示单元为发光二极管。

6.一种电子设备的测试装置，其特征在于，包括：

采集模块，用于在电子设备执行测试命令后，通过摄像装置采集所述电子设备的图像，以得到所述对比图像；

提取模块，用于提取所述对比图像的信息；

比较模块，用于比较提取到的信息和预存的标准信息，其中，所述标准信息包括所述电子设备执行所述测试命令后的正确执行结果；以及

确定模块，用于根据比较结果确定所述电子设备执行所述测试命令的结果。

7.根据权利要求6所述的电子设备的测试装置，其特征在于，所述电子设备为显示器时，所述显示器的背光源处于长亮的状态，其中，所述提取模块包括：

阈值子模块，用于对所述对比图像通过阈值化函数进行阈值化，其中，阈值化结果为1的像素点为所述对比图像中第一部分的像素点，阈值化结果为0的像素点为所述对比图像中第二部分的像素点，所述第一部分为所述显示器的背光区域对应的图像部分，所述第二部分为所述对比图像中除所述第一部分之外的部分；

替换子模块，用于读取所述对比图像各像素点的像素值，将所述第二部分中所有像素点的像素值替换为0；

滤波填充子模块，用于对像素替换后的所述对比图像进行颗粒滤波和填充处理；

检测子模块，用于通过边缘检测处理颗粒滤波和填充处理后的所述对比图像，以得到所述第一部分在所述对比图像中的坐标范围；以及

提取子模块，用于对所述坐标范围内的图像进行图像处理，以得到所述对比图像的有效信息。

8.根据权利要求6所述的电子设备的测试装置，其特征在于，所述电子设备为控制主板时，所述控制主板的信号输出端连接有显示单元，所述采集模块用于通过所述摄像装置采集所述显示单元的图像。

9.一种电子设备的测试工装，其特征在于，包括：

摄像装置，用于在电子设备执行测试命令后，采集所述电子设备的图像，以得到对比图像；

处理装置，与所述摄像装置相连接，用于提取所述对比图像中的信息，并根据提取到的信息和预存的标准信息确定所述电子设备执行所述测试命令的结果，

其中，所述标准信息包括所述电子设备执行所述测试命令后的正确执行结果；以及

显示装置，与所述处理装置相连接，用于输出所述电子设备执行所述测试命令的结果。