[发明专利]电子设备的测试方法、测试装置、测试工装和测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及测试领域，具体而言，涉及一种电子设备的电子设备的测试方法、测试装置、测试工装和测试系统。

背景技术

目前，对电子设备进行测试时，在电子设备执行测试的控制命令后，通常需要测试员去查看测试结果，例如在测试显示器时，需要测试员去查看显示器执行控制命令后的显示信息，例如在测试控制主板时，需要测试员去查主板负载动作。

这种人工测试的方法测试周期长、测试效率低，导致开发进度非常的漫长，并且测试可靠性差，测试质量无法保证，经常会由于测试员的测试技术或测试状态的影响，而出现测试错误。

针对相关技术中电子设备测试效率低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种电子设备的电子设备的测试方法、测试装置、测试工装和测试系统，以解决电子设备测试效率低的问题。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种电子设备的测试方法。

根据本发明的电子设备的测试方法包括：在电子设备执行测试命令后，采集电子设备的图像，以得到对比图像；提取对比图像的信息；比较提取到的信息和预存的标准信息，其中，标准信息包括电子设备执行测试命令时的正确执行结果；以及根据比较结果输出电子设备执行测试命令的结果。

进一步地，当电子设备为显示器时，在采集电子设备的图像之前，该方法还包括：控制显示器的背光源处于长亮的状态。

进一步地，提取对比图像的有效信息包括：对对比图像通过阈值化函数进行阈值化，其中，阈值化结果为1的像素点为对比图像中第一部分的像素点，阈值化结果为0的像素点为对比图像中第二部分的像素点，第一部分为显示器的背光区域对应的图像部分，第二部分为对比图像中除第一部分之外的部分；读取对比图像各像素点的像素值，将第二部分中所有像素点的像素值替换为0；对像素替换后的对比图像进行颗粒滤波和填充处理；通过边缘检测处理颗粒滤波和填充处理后的对比图像，以得到第一部分在对比图像中的坐标范围；以及对坐标范围内的图像进行图像处理，以得到对比图像的有效信息。

进一步地，电子设备为控制主板时，控制主板的信号输出端连接有显示单元，采集电子设备的图像包括：采集显示单元的图像。

进一步地，显示单元为发光二极管。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种电子设备的测试装置。

根据本发明的电子设备的测试装置包括：采集模块，用于在电子设备执行测试命令后，通过摄像装置采集电子设备的图像，以得到对比图像；提取模块，用于提取对比图像的信息；比较模块，用于比较提取到的信息和预存的标准信息，其中，标准信息包括电子设备执行测试命令时的正确执行结果；以及确定模块，用于根据比较结果确定电子设备执行测试命令的结果。

进一步地，电子设备为显示器时，显示器的背光源处于长亮的状态，其中，提取模块包括：阈值子模块，用于对对比图像通过阈值化函数进行阈值化，其中，阈值化结果为1的像素点为对比图像中第一部分的像素点，阈值化结果为0的像素点为对比图像中第二部分的像素点，第一部分为显示器的背光区域对应的图像部分，第二部分为对比图像中除第一部分之外的部分；替换子模块，用于读取对比图像各像素点的像素值，将第二部分中所有像素点的像素值替换为0；滤波填充子模块，用于对像素替换后的对比图像进行颗粒滤波和填充处理；检测子模块，用于通过边缘检测处理颗粒滤波和填充处理后的对比图像，以得到第一部分在对比图像中的坐标范围；以及提取子模块，用于对坐标范围内的图像进行图像处理，以得到对比图像的有效信息。

进一步地，电子设备为控制主板时，控制主板的信号输出端连接有显示单元，采集模块用于通过摄像装置采集显示单元的图像。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种电子设备的测试工装。

根据本发明的电子设备的测试工装包括：摄像装置，用于在电子设备执行测试命令后，采集电子设备的图像，以得到对比图像；处理装置，与摄像装置相连接，用于提取对比图像中的信息，并根据提取到的信息和预存的标准信息确定电子设备执行测试命令的结果，其中，标准信息包括电子设备执行测试命令时的正确执行结果；以及显示装置，与处理装置相连接，用于输出电子设备执行测试命令的结果。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种电子设备的测试系统。

根据本发明的电子设备的测试系统包括：控制装置，用于生成测试命令；电子设备，与控制装置相连接；以及本发明提供的测试工装。