[发明专利]模型约束静校正法的校正量计算方法有效
| 申请号： | 201210296569.8 | 申请日： | 2012-08-20 |
| 公开（公告）号： | CN102841382A | 公开（公告）日： | 2012-12-26 |
| 发明（设计）人： | 龙资强;敬龙江;耿春;胡善政;黎书琴;孙伟鹏;邓雁 | 申请（专利权）人： | 中国石油集团川庆钻探工程有限公司地球物理勘探公司 |
| 主分类号： | G01V1/36 | 分类号： | G01V1/36 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 谭昌驰 |
| 地址： | 610213 四川省成都*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 模型 约束 校正 计算方法 | ||
1.一种模型约束静校正法的校正量计算方法，其特征在于，所述方法包括如下几个步骤：
(a)对目标区域建立表层模型；
(b)采用模型静校正法计算出表层模型的第一参考校正量；
(c)对所述第一参考校正量进行分解，并取得所述第一参考校正量的第一长波长分量；
(d)采用非确定性静校正法来对地震勘探数据计算出第二参考校正量；
(e)对所述第二参考校正量进行分解以获得所述第二参考校正量的第二长波长分量；
(f)从所述第二参考校正量中减去第二长波长分量，以获得第二短波长分量；
(g)将第一长波长分量和第二短波长分量相加，以获得目标校正量。
2.根据权利要求1所述的校正量计算方法，其特征在于，在步骤(c)中，对第一参考校正量进行平滑以获得第一长波长分量。
3.根据权利要求2所述的校正量计算方法，其特征在于，在步骤(c)中，根据以下公式对第一参考校正量进行矩形窗平均平滑，
其中，f(k)表示第一参考校正量，M表示平滑长度，i表示平滑的点号，L(i)表示第一长波长分量。
4.根据权利要求1至3中的任意一项所述的校正量计算方法，其特征在于，在步骤(e)中，对第二参考校正量进行平滑以获得第二长波长分量。
5.根据权利要求4所述的校正量计算方法，其特征在于，在步骤(e)中，根据以下公式对第二参考校正量进行矩形窗平均平滑，
其中，f(k)表示第二参考校正量，M表示平滑长度，i表示平滑的点号，L(i)表示第二长波长分量。
6.根据权利要求1所述的校正量计算方法，其特征在于，所述非确定性静校正法为相对折射静校正法、多域迭代校正法、折射静校正法和层析静校正法之一。
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