[发明专利]模型约束静校正法的校正量计算方法

说明书

技术领域

本发明涉及地球物理地震勘探领域，尤其涉及利用表层模型准确计算静校正量的方法。

背景技术

目前，我国地震勘探主要集中在山地、沙漠、黄土塬等地表复杂的区域，并且所面临的地表条件非常复杂，不同区域有不同的表层特点，存在大量高速层顶界不平坦和表层速度横向变化大的情况，因此表层问题已成为地震勘探的首要问题。

另外，随着各油田勘探程度的提高，且勘探目标向低幅度、小断块和岩性圈闭的勘探方向转移，勘探的难度不断加大，精度要求也不断提高。为了准确地分辨出地下圈闭，静校正的问题日显突出。静校正已经成为制约勘探的一个瓶颈，要想获得地震勘探的进一步突破，首先要解决静校正问题。

此外，由静校正引起的闭合问题是复杂的，它是由基准面、高速层顶界面、表层调查点、交点、表层模型、时深曲线、替换速度和计算方法等多种因素综合形成的，在静校正计算中，如果上述因素不可靠或使用不当，就会造成剖面闭合问题或构造形态失真问题。这是勘探中长期存在的问题，特别是对低幅度构造的勘探尤为突出。

目前使用较多的静校正计算方法有模型法静校正量计算方法、折射法静校正量计算方法、层析法静校正量计算方法等。这些方法有各自的适应条件。例如，模型法静校正量计算方法是基于控制点的，如果控制点准确，通常情况下长波长静校正精度可以保证，但短波长静校正不够准确，叠加效果不尽如人意。

发明内容

本发明的目的在于提供一种模型约束静校正法的校正量计算方法，其特征在于，所述方法包括如下几个步骤：(a)对目标区域建立表层模型；(b)采用模型静校正法计算出表层模型的第一参考校正量；(c)对所述第一参考校正量进行分解，并取得所述第一参考校正量的第一长波长分量；(d)采用非确定性静校正法计算出第二参考校正量；(e)对所述第二参考校正量进行分解以获得所述第二参考校正量的第二长波长分量；(f)从所述第二参考校正量中减去第二长波长分量以获得第二短波长分量；(g)将第一长波长分量和第二短波长分量相加，以获得目标校正量。

优选地，在步骤(c)中，对第一参考校正量进行平滑以获得第一长波长分量。

优选地，在步骤(c)中，根据以下公式(1)对第一参考校正量进行BOX平滑，

L(i)=12MΣk=i-Mi+Mf(k)---(1)]]>

其中，f(k)表示物理点的用模型静校正法计算的第一参考校正量，(k的含义？)，M表示平滑长度，i表示平滑的点号，L(i)表示模型静校正法的长波长分量。

优选地，在步骤(e)中，对第二参考校正量进行平滑以获得第二长波长分量。

更有选地，在步骤(e)中，根据以下公式(1)对第二参考校正量进行BOX平滑，