[发明专利]一种基于LTCC基板薄膜多层布线制作方法有效
申请号: | 201210303440.5 | 申请日: | 2012-08-24 |
公开(公告)号: | CN102856213A | 公开(公告)日: | 2013-01-02 |
发明(设计)人: | 方澍;田昊;余飞;徐姗姗;刘昕 | 申请(专利权)人: | 中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;H01L21/768 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
地址: | 215163 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 ltcc 薄膜 多层 布线 制作方法 | ||
技术领域
本发明属于混合集成电路技术领域。涉及一种基于低温共烧陶瓷(LTCC)基板薄膜多层布线制作方法。
背景技术
在低温共烧陶瓷(LTCC)多层基板上,通过薄膜工艺制作薄膜多层布线构成混合多层布线基板。其中薄膜多层布线作为信号线、接地线和焊区,这是利用薄膜多层布线具有信号传输延迟小、互连密度高、集成度高的优点。LTCC多层布线作为电源线和接地线或低速信号线,这是利用LTCC易于实现多层布线层数和适宜于大电流的优点。薄膜多层布线和LTCC多层布线的完美结合,使LTCC薄膜混合型多层布线基板所构成的混合多芯片组件MCM-C/D具有更高的性价比、优良的性能,是目前混合多层布线基板中发展最为迅速、应用最为广泛的一种。在大型高速计算机系统、微波领域的应用很有竞争力,特别是在机载、星载或航天领域中,其体积小、重量轻、可靠性高的特点更加突出,是一种非常有潜力的微波电路模块(低噪声放大器、滤波器、移相器等),甚至需求量越来越大的T/R组件基板制造技术。
目前,LTCC基板上薄膜多层布线最流行的工艺制作方法为:LTCC基板抛磨、基板正面溅射粘附层和种子层、第一次光刻形成导带图形、电镀主导体层金属、第二次光刻形成通孔图形、电镀形成通孔柱、第三次光刻露出多余的种子层、湿法刻蚀去除多余的种子层和粘附层金属、旋涂聚酰亚胺,并使之固化,形成胺膜、对聚酰亚胺表面进行机械抛光,使之平整,并露出Cu柱表面,以便与下一层布线互连、重复上面步骤,在LTCC基板上完成薄膜多层布线。该方法存在几个方面的缺点:
一是LTCC基板与第一层薄膜布线(LTCC基板-薄膜界面)之间经常出现LTCC基板上通孔柱经后续薄膜工艺发生“起泡”现象,严重时发生连线断路或短路现象,给器件可靠性带来了隐患。
二是多余的种子层和粘附层需多次反复光刻,给光刻的工艺控制带来了一系列的加工难度和困难。例如,在起伏的表面上光刻,容易产生套准误差;湿法刻蚀去除多余的种子层和粘附层金属时,出现侧钻现象、线条不整齐不陡直、线宽难以控制、难以制作细线条等问题。
三是电镀均匀性较差。因为目前流行的工艺,在电镀时,电极都是以点接触的方式,与基板布线导电层相连接,使电流在基板上的分布不均匀,造成电镀的金属薄层厚度不均匀。
四是工艺过于繁多复杂,增加了不少工艺步骤,如需反复光刻、腐蚀、去胶,给薄膜布线带来了难度。同时,为了去除多余的种子层和粘附层,并想达到好的布线质量效果,一般需要用昂贵的专用喷胶机在高低不平的表面上进行涂胶,才能使高低不平的基板表面都能涂上光刻胶,且光刻胶厚基本一致,便于光刻。
发明内容
针对现有技术中存在的问题,本发明提出了一种基于LTCC基板薄膜多层布线制作方法。采用基板表面处理、利用多层基板内的导线互连特点,在LTCC基板背面溅射一层电镀时的导电层,并与阴极以面接触的方式进行电镀,以及剥离技术制作粘附层和种子层等工艺技术,解决了现有LTCC基板上多层布线技术中线宽精度低、线条边缘不整齐、布线密度低、套准误差大、重复性差、可靠性差、工艺复杂等问题。
本发明的基本思路是:
LTCC基板的抛磨和处理:LTCC多层基板在烧结等加工过程中,因基片各方向的收缩率不同、排气不彻底、内应力等因素的存在,常会引起基板翘曲变形,平整度差,将给后续薄膜工艺带来困难。采用粗抛和精抛两步对基板进行抛磨,通过粗抛和精抛使LTCC基板上表面的平整度小于10μm/cm、光洁度达到0.1μm以下。采用500℃的工艺处理后,以释放LTCC基板表面通孔柱中吸附的气体,避免界面互连区在高温过程中产生起泡现象的发生。
LTCC基板背面溅射一层导电层:此目的是为了在电镀Cu导带和Cu通孔柱时,此层导电层与阴极以面接触相连,进行电镀。
第一次光刻工艺:第一次光刻形成正“八”字形粘附层和种子层的溅射和电镀掩膜层的断面窗口,根据负性光刻胶的特性和光刻原理,对一般的负性光刻胶来说,均能形成上窄下宽的正“八”字形掩膜层断面图形,光刻胶越厚越易形成这种图形,且上下宽度差距更大。工艺中,较佳地是采用AZ5200型光刻胶,利用其负胶特性形成上窄下宽的正“八”字形掩膜层断面的光刻窗口。
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造