[发明专利]远红外线材料分析及制造方法无效
| 申请号： | 201210329031.2 | 申请日： | 2012-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN102998320A | 公开（公告）日： | 2013-03-27 |
| 发明（设计）人： | 陈智成;廖健宏 | 申请（专利权）人： | 远东科技大学 |
| 主分类号： | G01N23/22 | 分类号： | G01N23/22;G01N23/20;G01N1/28 |
| 代理公司： | 厦门市诚得知识产权代理事务所(普通合伙) 35209 | 代理人： | 赖开慧 |
| 地址： | 中国台湾台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 红外线 材料 分析 制造 方法 | ||
1.一种远红外线材料分析方法，包括下列步骤：
A.对一电气石加热至出现莫来石结晶相工作温度；
B.在该电气石上取得一观察剖面；
C.在该观察剖面上区隔出莫来石结构区域与非莫来石结构区域；
D.侦测该非莫来石结构区域的X光能谱，以确认该非莫来石结构区域之所含成份内容；
E.对该观察剖面进行结晶相分析，获得非莫来石结构区域的结晶相信息；
F.根据步骤D与步骤E所获得非莫来石结构区域之成份与结晶相信息，作为调配远红外线材料的参考信息。
2.如权利要求1所述远红外线材料分析方法，其特征在于：步骤A的工作温度系介于1000℃至1600℃。
3.如权利要求1所述远红外线材料分析方法，其特征在于：步骤B是对该加热后的电气石执行切削或/与研磨方式获得该观察剖面。
4.如权利要求1所述远红外线材料分析方法，其特征在于：步骤C是透过一电子显微镜，在该电气石的观察剖面上根据结晶形状区隔出莫来石结构区域与非莫来石结构区域。
5.如权利要求1所述远红外线材料分析方法，其特征在于：步骤D是透过一能量散射光谱仪(EDS)来确认非莫来石结构区域的所含成份内容。
6.如权利要求1所述远红外线材料分析方法，其特征在于：步骤E是透过一X光绕射分析方法(XRD)来确认该非莫来石结构区域的结晶相。
7.一种远红外线材料制造方法，是根据权利要求1所述远红外线材料分析方法的步骤D选择相符合的成份，再将该成份加热至符合步骤E的结晶相，以制作一远红外线材料。
8.如权利要求7所述远红外线材料制造方法，其特征在于：该相符合的成份是包含镁31-41%、铁49-59%及钠6-13%。
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