[发明专利]远红外线材料分析及制造方法

说明书

技术领域

本发明是有关于一种远红外线材料分析及制造方法，特别是指针对电气石热性质与晶相进行分析，便可了解电气石中可以提高远红外线放射效率的矿物成份，借以能利用该等矿物成份制作一远红外线材料。

背景技术

目前一般所常见的远红外线组成物的制造方法，如中国台湾2008年11月16日所公开的发明第200844066号「远红外线组成物之制造方法及其制品」专利案，其揭露：以高温烧结远红外线材料，并研磨成微/奈米级的配方后，使该配方依附在一基材，制成一制品。由于该远红外线材料包含有配合该制品用途而决定比例的SiO2、AlO2、NaO2、K2O、MgO，因此，可以配合各种基材的不同，制成器皿、织物、薄膜、油漆、磁砖、燃料(汽油、柴油、瓦斯...等)、水的激化装置...等制品，使该特定制品利用前述配方的特性及微/奈米化活性(微/奈米效应，即比表面积增加)，大幅提升释放远红外线与负离子的效果。

该专利前案的远红外线组成物制造方法及其制品，可在常温下即能放射优质远红外线有效能量，但其并未揭露有能够利用电气石天然矿物制备出高放射率的远红外线材料，而且电气石种类繁多，目前亦无可以准确测试出可以放射出远红外线成分的方法，因此，在使用上仍有诸多的缺点。

发明内容

爰此，有鉴于目前测试远红外线成分方法具有上述的缺点，故本发明提供一种远红外线材料分析及制造方法，包括有：A.对一电气石加热至出现莫来石结晶相之工作温度；B.在该电气石上取得一观察剖面；C.在该观察剖面上区隔出莫来石结构区域与非莫来石结构区域；D.侦测该非莫来石结构区域之X光能谱，以确认该非莫来石结构区域之所含成份内容；E.对该观察剖面进行结晶相分析，获得非莫来石结构区域之结晶相信息；F.根据步骤D与步骤E所获得之非莫来石结构区域之之成份与结晶相信息，作为调配远红外线材料之参考信息。

上述步骤A的工作温度系介于1000℃至1600℃。

上述步骤B是对该加热后电气石执行切削或/与研磨方式获得该观察剖面。

上述步骤C是透过一电子显微镜，在该电气石的观察剖面上根据结晶形状区隔出莫来石结构区域与非莫来石结构区域。

上述步骤D是透过一能量散射光谱仪(EDS)来确认非莫来石结构区域的所含成份内容。

上述步骤E是透过一X光绕射分析方法(XRD)来确认该非莫来石结构区域之结晶相。

本发明亦可为一种远红外线材料制造方法，是根据上述远红外线材料分析方法的步骤D选择相符合的成份，再将该成份加热至符合步骤E的结晶相，以制作一远红外线材料。

本发明所能达成的优点，是可针对不同的电气石，快速且简单的分析出非莫来石结构区域的基材中，具有高放射率远红外线的成份及结晶，借以可作为制造高放射率远红外线材料之用。

附图说明

图1为本发明的操作步骤流程图，

图2为本发明电气石热性质分析示意图，

图3为本发明电气石经不同温度热处理的远红外线放射率，

图4为本发明电气石以不同温度热处理的XRD分析示意图，

图5为本发明电气石原观察剖面的微结构金相图，

图6为本发明电气石经850℃热处理后观察剖面的微结构金相图，

图7为本发明电气石经950℃热处理后观察剖面的微结构金相图，

图8为本发明电气石经1000℃热处理后观察剖面的微结构金相图， 

图9为本发明电气石经1450℃热处理后在观察剖面的微结构所产生的局部丛状结晶金相图，

图10为本发明电气石经1450℃热处理后在观察剖面的微结构所产生的孔洞金相图，

 图11为本发明电气石经1450℃热处理后在观察剖面的微结构所产生的完整针状莫来石金相图，

图12为本发明电气石经1450℃热处理后，对针状莫来石进行EDS的成份分析金相图，

图13为本发明电气石中莫来石周边基材之EDS成份分析金相图，

图14为本发明电气石中基材的XRD矿物相分析示意图，

表一为本发明电气石经EDS成份分析数据，

表二为本发明电气石经1450℃热处理后针状莫来石的EDS成份分析之数据，

表三为本发明电气石经1450°C热处理后的基材成份数据。

具体实施方式

首先，请参阅图1所示，本发明为一种远红外线材料分析方法，包括有下列步骤：