[发明专利]一种大幅面精密薄板材厚度测量仪无效

专利信息
申请号: 201210334892.X 申请日: 2012-09-12
公开(公告)号: CN102818530A 公开(公告)日: 2012-12-12
发明(设计)人: 赵春花 申请(专利权)人: 昆山允可精密工业技术有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 北京市振邦律师事务所 11389 代理人: 李朝辉
地址: 215333 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 大幅面 精密 薄板 厚度 测量仪
【权利要求书】:

1.一种大幅面精密薄板材厚度测量仪,其特征在于,包括:调整垫脚、方钢架底座、花岗岩平台、横梁固定座、轴承座、轧辊、皮带、上测头安装座、下测头安装座、上测头、下测头、一维调整模块、支撑板、支撑板固定座、横梁、滚轮、伺服电机;所述的上测头通过一维调整模块被安装在横梁上,,所述的上头测安装有一维调节按钮,上测头和下测头的位置相对,上测头发出的上测量光束与下测头发出的下测量光束相对射,所述的上测头与下测头之间有一块在测量点开口的支撑板,支撑板通过支撑固定座固定在花岗岩平台上;所述的支撑板两侧固定有轧辊;所述的轧辊上安装有皮带,其中一根轧辊上安装有伺服电机。

2.如权利要求1所述的一种大幅面精密薄板材厚度测量仪,其特征在于,所述的一维调整模块上安装有滚轮。

3.如权利要求1所述的一种大幅面精密薄板材厚度测量仪,其特征在于,所述的滚轮为橡胶制成。

4.如权利要求1所述的一种大幅面精密薄板材厚度测量仪,其特征在于,所述的上测头和下测头至少为一对,上测头设有一维调节按钮和上激光位移传感器,下测头设有下激光位移传感器,通过调节一维调节按钮,使上测头相对下测头上下移动。

5.如权利要求1或4所述的一种大幅面精密薄板材厚度测量仪,其特征在于,所述的下测头上设有二维角度调节按钮,通过调节二维角度调节按钮来调节下测头发出的下测量光束与上测头发出上测量光束的同线位置关系。

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