[发明专利]聚合物材料及其应用无效
申请号: | 201210346914.4 | 申请日: | 2012-09-18 |
公开(公告)号: | CN103676481A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 苏佳乐 | 申请(专利权)人: | 无锡华润上华半导体有限公司 |
主分类号: | G03F7/038 | 分类号: | G03F7/038;B81C3/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 常亮 |
地址: | 214028 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 聚合物 材料 及其 应用 | ||
技术领域
本发明属于半导体制造领域,特别涉及一种聚合物材料及其应用。
背景技术
在MEMS(微机电系统Micro-Electro-Mechanical Systems)的胶键合(Adhesive bonding)工艺中,这种键合方式的工艺温度低(<250°C),但键合强度较高。通常应用于需要低温工艺的MEMS器件和玻璃与玻璃键合。在Adhesive bonding中通常使用BCB或者SU8这两种胶。BCB可以先图形化再进行键合(250°C),但需要很高的压强(>2bar),对于需要低压强键合的MEMS器件无法满足需求。而SU8可以进行低压强键合(1bar)。但是SU8在常温下是固态,类似于光刻胶,这样是无法与另一片硅片粘合在一起的,SU8的特性是在130-150度的时候开始回流,在这种情况下会类似于胶水与另外一片硅片粘上。所以需要回流,如果没有回流就无法键合。对于一些特殊结构,如契形结构(在键合时与上层硅片/玻璃片形成虹膜,参图1),SU8在键合过程中,因为虹膜效应,会流动并聚集在硅片与玻璃片之间,影响键合效果。而在键合前,通过曝光使SU8固化或部分固化的效果不好。如果SU8固化,就因为无法回流而不能键合。SU8部分固化,在键合时仍然表现出较强的回流特性,工艺窗口很小,不易控制。
发明内容
针对现有技术的不足,本发明解决的技术问题是提供一种聚合物材料,该聚合物材料在应用于胶键合工艺时,不仅可以解决SU8的回流问题,并且降低了SU8的键合压强。
为解决上述技术问题,本发明的技术方案是这样实现的:
本发明公开了一种聚合物材料,其中,所述聚合物材料包含有SU8和表面活性剂。
作为本发明的进一步改进,所述表面活性剂在所述聚合物材料中的质量比为9%~11%。
作为本发明的进一步改进,所述表面活性剂在所述聚合物材料中的质量比为10%。
本发明还公开了所述聚合物材料在键合中的应用。
作为本发明的进一步改进,所述键合的温度为170~200度。
作为本发明的进一步改进,所述键合的压强为0.5~1bar。
作为本发明的进一步改进,所述键合包括玻璃/玻璃键合、硅/玻璃键合、硅/硅键合或晶片/硅键合。
与现有技术相比,本发明提供了一种聚合物材料,该聚合物材料包含有SU8和表面活性剂。SU8为疏水性材料,因此在键合的时候需要先加热至130度以上使其回流,配合一定的压强,使两个硅片(玻璃片)完成键合。通过在SU8内添加少量的表面活性剂,将SU8改为亲水性的材料,降低SU8的表面张力,加强它的粘性,使得它更易于黏附,通过光刻固化使得SU8在高温下仍然有很小量的回流,配合一定的压强,即可完成键合,而且键合压强低。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1所示为现有技术中SU8胶在硅/玻璃键合中的应用;
图2所示为本发明实施例中聚合物材料在应用于硅片/硅片键合时的电镜图;
图3所示为图2中A的放大图。
具体实施方式
选择键合技术的程序通常依赖于一系列要求,如温度限制、密闭性要求和需要的键合后对准精度。键合的选择包括标准工业工艺,如阳极键合、玻璃浆料键合和黏着键合,以及新发展的低温共晶键合,金属扩散(共熔晶)键合和特定应用中的硅熔融键合。
玻璃浆料键合广泛应用于加速度计的制造和微机电系统的生产。玻璃浆料是一种浆状物质,由铅硅酸玻璃颗粒、钡硅酸盐填充物、浆料和溶剂组成。常见的应用方法是通过丝网印刷技术。通常情况下,图形化后的浆料在每个芯片周围,覆盖30-200微米宽的环形区域,厚度为10-30微米。多余的溶剂在图形化后通过烘烤浆料去除。在晶片对准后进行热压键合。在实际的玻璃浆料键合过程中,玻璃融化并与其中的填充物熔合,从而形成了具有极好密闭性的无空洞封接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡华润上华半导体有限公司,未经无锡华润上华半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210346914.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:图像形成装置
- 下一篇:包含多种生酸剂化合物的光致抗蚀剂