[发明专利]一种无坩埚快速生长厘米量级Ti:Ta2O5晶体的方法有效
申请号: | 201210353144.6 | 申请日: | 2012-09-20 |
公开(公告)号: | CN102912438A | 公开(公告)日: | 2013-02-06 |
发明(设计)人: | 蒋毅坚;徐宏;马云峰;王越 | 申请(专利权)人: | 北京工业大学 |
主分类号: | C30B29/16 | 分类号: | C30B29/16;C30B13/00 |
代理公司: | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人: | 张慧 |
地址: | 100124 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 坩埚 快速 生长 厘米 量级 ti ta sub 晶体 方法 | ||
技术领域
本发明属于Ti:Ta2O5晶体生长领域,涉及一种无坩埚快速生长厘米量级Ti:Ta2O5晶体的方法。
技术背景
晶体材料在科学技术发展中起着十分重要的作用,是信息时代的重要基石,也是发展高技术的物质基础。主要的晶体制备技术主要有:熔体生长,溶液生长,气相生长,固相生长。无坩埚生长方法作为一种新型无坩埚晶体生长方法,具有无需坩埚,污染少,生长速度快等优点,对于一些难以生长(包含提拉法不能生长的晶体)、易污染的晶体,显示出很大的优越性。浮区法是在生长的晶体与多晶棒之间有一段熔区,该熔区由表面张力所支撑。熔区自上而下,或者自下而上移动,以完成结晶过程。浮区法无需坩埚、无污染、生长速度快,适合生长高熔点的晶体。能够提供高质量、小尺寸的晶体,便于控制组分。应用面广,可用于氧化物、半导体、金属间化合物等多类材料,尤其是熔体反应强烈的晶体。该方法的主要优点是不需要坩埚,生长的晶体纯度很高,并且掺杂均匀。也由于加热不受坩埚熔点的限制,在生长高熔点材料方面有独特的优势。与提拉法相比,研究材料的领域就宽广了许多。浮区法为研究多体系、高熔点、合成难的晶体研究提供了一种新的研究方法和途径。由于器件的小型化、集成化,对晶体尺寸要求越来越小。浮区法在晶体生长方面获得了很多的应用。
Ta2O5(Tantalum Pent-oxide)是重要的介电材料和光波导材料,同时由于其易与半导体集成电路工艺相兼容,已成为新一代动态随机存储器(DRAM)的热门候选材料。生长出高介电常数的掺杂后Ta2O5基晶体并研究其物理性质随晶向的关系,对于开发高性能Ta2O5基器件和高κ材料将提供拥有自主知识产权的技术基础具有重要意义。然而,Ta2O5的熔点接近1900℃,采用传统的生长技术难以得到Ti:Ta2O5晶体,使得对Ti:Ta2O5物理性质的研究遇到了困难。目前,对Ti:Ta2O5的研究主要集中在制备Ti:Ta2O5薄膜上,关于Ti:Ta2O5晶体生长的文献很少。迄今为止,还没有见到采用浮区法生长大尺寸Ti:Ta2O5晶体的报道。
使用坩埚法生长晶体,由于其条件局限,生长周期长,成本高,而且实验条件要求苛刻,仪器设备复杂,操作复杂,在生长高熔点晶体方面受到一定的限制。无坩埚法生长晶体无需坩埚、无污染、生长速度快,能够提供高质量、小尺寸的晶体,便于控制组分。与提拉法相比,研究材料的领域就宽广了许多。无坩埚生长方法不仅丰富了晶体生长的手段、缩短了晶体生长的周期,还为研究多体系、高熔点、合成难的晶体研究提供了一种新的研究方法和途径。
人工无坩埚快速生长大尺寸Ti:Ta2O5晶体、并且提高其介电常数的技术依然是个挑战也是一个研究热点。至于此,本发明尝试了使用光学浮区法快速生长厘米量级、无宏观缺陷、高质量Ti:Ta2O5晶体的无坩埚生长技术。
发明内容
本发明的目的是克服现有大尺寸厘米量级Ti:Ta2O5晶体生长技术中存在的空白,用光学浮区法生长出大尺寸(直径是厘米级)、无宏观缺陷的Ti:Ta2O5晶体不仅是重要的科学问题,对于开发高性能Ta2O5基器件和高介电材料(又称高κ材料)方面将提供拥有自主知识产权的技术基础。本发明提供一种浮区法快速生长大尺寸(厘米级)Ti:Ta2O5晶体的方法。
一种无坩埚快速生长厘米量级Ti:Ta2O5晶体的方法,包括以下步骤:
(1)配料和料棒制备:将高纯(不低于99.99%)符合化学计量比的TiO2和Ta2O5粉料经过混合球磨、预烧;将预烧后的多晶粉料装入橡胶管中,然后放入等静压下压制成棒状的多晶棒;
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