[发明专利]用于光蚀刻法的组合物和防反射涂层有效

专利信息
申请号: 201210355370.8 申请日: 2012-09-21
公开(公告)号: CN103113827B 公开(公告)日: 2017-03-01
发明(设计)人: 饶袁桥;R.L.奥格;C.W.基亚里;Y.N.斯里瓦斯塔瓦;C.P.沙利文 申请(专利权)人: 陶氏环球技术有限责任公司;罗姆哈斯电子材料有限责任公司
主分类号: C09D183/07 分类号: C09D183/07;C09D143/04;G03F7/09;G03F7/16;C08G77/20;C08F130/08;C08F230/08
代理公司: 北京市嘉元知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11484 代理人: 张永新
地址: 美国密*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 蚀刻 组合 反射 涂层
【权利要求书】:

1.一种组合物,其包括至少以下的A和B:

A)含有以下的结构单元1的聚合物:

其中

L是CX-CYZ,其中X、Y、和Z各自独立地选自氢、烷基、或者取代的烷基;和,

M是亚烷基、亚芳基、取代的亚烷基、取代的亚芳基、或者C(O)O-W-,其中W是亚烷基或者取代的亚烷基;和

R’、R”、和R”’各自独立地选自芳族烃、脂族烃、或者取代的烃,其含有O,N,S,或者Si原子中的一个或者多个,条件是R’、R”和R”’中的至少一个选自烷氧基、芳氧基、羟基、卤素、羧基、或者碳酸酯;和,

p是1至10,000的整数;和

条件是该聚合物不含有多面体低聚倍半硅氧烷(POSS)结构;和

B)由第一组合物形成的聚合物,所述第一组合物包括以下的至少一种:

a)选自式1的化合物F1:

(式1),

其中Ra包括一个或多个多重键,条件是,如果Ra含有多于一个多重键,那么这些多重键不为共轭的构型;和

R1、R2、和R3各自独立地选自烷氧基、羟基、卤素、OC(O)R、或者OC(O)OR,其中R是烷基或者取代的烷基;

b)选自式2的化合物F2:

(式2),

其中Rb选自H或者饱和的基团,所述饱和的基团包括烷基,烷撑,或者烷叉;和R4、R5、和R6各自独立地选自烷氧基、羟基、卤素、OC(O)R、或者OC(O)OR,其中R是烷基或者取代的烷基;

c)选自式3的化合物F3:

(式3),

其中Rc包括多于一个多重键,和这些多重键为共轭的构型;和R7、R8、和R9各自独立地选自烷氧基、羟基、卤素、OC(O)R、或者OC(O)OR,其中R是烷基或者取代的烷基;和/或

d)选自式4的化合物F4:

(式4),

其中R10、R11、R12、和R13各自独立地选自烷氧基、羟基、卤素、OC(O)R、或者OC(O)OR,其中R是烷基或取代的烷基。

2.权利要求1的组合物,其中在结构单元(1)中,X、Y、和Z各自独立地选自氢或者C1-C10烷基。

3.权利要求1或2的组合物,其中,在结构单元(1)中,M是C1至C10亚烷基,C 1至C10亚芳基,或者C(O)O-W-,和W是C1至C 10亚烷基。

4.前述权利要求中任一项的组合物,其中,在结构单元(1)中,R’、R”、和R”’各自独立地选自C1至C10脂族烃、C1至C10芳族烃、OH、OR、OC(O)R、或者OC(O)OR,其中R是C1至C10脂族烃,或者C1至C10芳族烃,条件是R’、R”、和R”’中至少一个是OH、OR、OC(O)R,或者OC(O)OR。

5.前述权利要求中任一项的组合物,其中,在结构单元(1)中,X、Y、和Z各自独立地选自氢,或者C1至C10烷基;和

M是C1至C10亚烷基,C1至C10亚芳基,或者C(O)O-W-,和W是C1至C10亚烷基;和

R’、R”、和R”’各自独立地选自C1至C10脂族烃、C1至C10芳族烃、OH、OR、OC(O)R、或者OC(O)OR,其中R是C1至C10脂族烃,或者C1至C10芳族烃,条件是R’、R”、和R”’中至少一个是OH、OR、OC(O)R、或者OC(O)OR;和

P是10至1000的整数。

6.前述权利要求中任一项的组合物,其中,在结构单元(1)中,X、Y、和Z各自独立地选自氢或者甲基;和

M是亚苯基或者C(O)O-W-,和W是C1至C4亚烷基;和

R’、R”、和R”’各自独立地选自OH、OR、OC(O)R、或者OC(O)OR,其中R是甲基,乙基,正丙基,2-丙基,正丁基,异丁基,或者2-丁基;和

p是10至500的整数。

7.前述权利要求中任一项的组合物,其中结构单元(1)具有以下结构结构:

其中T是H或者甲基;R是甲基或和乙基;n是1至3的整数;和p是10至500的整数。

8.前述权利要求中任一项的组合物,其中结构单元(1)是聚(3-丙烯酰氧基丙基三甲氧基硅烷)。

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