[发明专利]检测装置

权利要求书

1.一种检测装置，其特征在于，该检测装置至少包含：

一载台，该载台用以承载待测的复数个发光二极管晶片；

一点测装置，该点测装置包含二探针及一电源供应器，这些探针的二端分别电性连接这些发光二极管晶片之一者及该电源供应器，以令该发光二极管晶片发出复数道光线；

一光感测装置，该光感测装置设于该发光二极管晶片的出光面的一侧；以及

一聚光单元，该聚光单元设于该发光二极管晶片与该光感测装置之间。

2.如权利要求1所述的检测装置，其中该聚光单元与该载台连动。

3.如权利要求1所述的检测装置，其中该聚光单元为聚光膜。

4.如权利要求3所述的检测装置，其中该聚光膜为一表面具有复数个微结构的膜片。

5.如权利要求3所述的检测装置，其中该聚光膜包含一基材及复数个微结构，该基材具有相对的上、下表面，这些微结构设于基材的邻近该光感测装置的一侧表面，用以聚集通过该聚光膜的这些光线。

6.如权利要求5所述的检测装置，其中这些微结构为复数个棱镜柱，每一这些棱镜柱具有一第一斜面及一第二斜面，该第一斜面及该第二斜面形成一顶角。

7.如权利要求5所述的检测装置，其中这些微结构为复数个弧形柱。

8.如权利要求5所述的检测装置，其中这些微结构为复数个具弧形表面的凸出体。

9.如权利要求1所述的检测装置，其中该聚光单元为会聚透镜。

10.如权利要求1所述的检测装置，其中该聚光单元为透镜组。

11.如权利要求1所述的检测装置，其中该聚光单元为一导光元件，该导光元件包含一入光面以及一出光面，该出光面的面积小于该入光面的面积，其中该入光面面向该发光二极管晶片，而该出光面面向该光感测装置。

12.如权利要求11所述的检测装置，其中该导光元件内含至少一光纤。

13.如权利要求1所述的检测装置，其中该聚光单元为一具不同折射率的多层膜片。

14.如权利要求1所述的检测装置，其中该载台是由光穿透度高于90%以上的材料所构成。

15.如权利要求1所述的检测装置，其中该光感测装置为积分球、太阳能板、光电晶体或光电阻。