[发明专利]检测装置

说明书

【技术领域】

本发明是有关于一种检测装置，特别是有关于一种用于检测发光二极管晶片发光效率的检测装置。

【背景技术】

随着科技进步及生活品质的提升，现代人对于照明更趋重视。从自古藉由物质燃烧以进行发光照明的火把、动植物油灯、蜡烛、煤油灯，藉以电力发光的白炽灯、荧光灯，抑或是现今常用的发光二极管(light-emitting diode，LED)，皆显示照明在人类日常生活中扮演极重要的角色。

发光二极管是藉由电子电洞结合以发出单色光，以达到照明或警示的作用。发光二极管相较于传统光源，具有发光效率高、使用寿命长、不易破损、反应速度快等优点。由于近几年政府大力的提倡及各城市LED路灯规模的加速扩大下，使用LED作为照明用途已随处可见。

一般常用点测机以检测发光二极管晶片的发光效率。点测机是藉由探针提供发光二极管晶片发光的电压来源，发光二极管晶片发出的光线通过承载发光二极管晶片的载台，再经由点测机的光感测装置收集光线，进而判断发光二极管晶片的发光效率。然而，发光二极管晶片发出的光线却可能因为光感测装置侦测范围的限制，而影响检测发光二极管晶片发光效率的准确度。

【发明内容】

有鉴于上述现有技艺的问题，本发明的其中一目的就是在提供一种检测装置，以解决光感测装置收光效率不佳的问题。

根据本发明的另一目的，提出一种检测装置，以聚集发光二极管晶片发出的光线。

根据本发明的再一目的，提出一种检测装置，以准确检测发光二极管晶片的发光效率。

为达前述目的，本发明提出一种检测装置，此检测装置包含载台、点测装置、光感测装置及聚光单元。载台用以承载待测的复数个发光二极管晶片，而点测装置包含二探针及一电源供应器，探针的二端分别电性连接复数个发光二极管晶片之一者及电源供应器，以令此发光二极管晶片发出复数道光线。光感测装置设于发光二极管晶片的出光面的一侧，用以接收通过发光二极管晶片发出的复数道光线。此外，聚光单元设于发光二极管晶片与光感测装置之间，用以达到聚集发光二极管晶片发出的复数道光线的目的。并且，聚光单元与载台连动，藉以经由移动载台，以检测复数个发光二极管晶片之另一者。其中，载台是由光穿透度高于90%以上的材料所构成，且光感测装置可例如为积分球、太阳能板、光电晶体或光电阻。

根据本发明的第一态样，本发明的聚光单元为聚光膜，更明确地说，聚光膜为一表面具有复数个微结构的膜片，用以聚集通过聚光膜的复数道光线。

根据本发明的第二态样，本发明的聚光单元为聚光膜，聚光膜包含具有相对的上、下表面的基材及复数个微结构，该复数个微结构设于基材的邻近光感测装置的一侧表面，用以聚集通过聚光膜的复数道光线。其中，复数个微结构并无特殊限制，其例如但不限于为复数个棱镜柱、复数个弧形柱或复数个具弧形表面的凸出体，上述的棱镜柱具有第一斜面及第二斜面，且第一斜面及第二斜面形成一顶角；上述的弧形柱的顶峰呈圆弧状。

根据本发明的第三态样，本发明的聚光单元为会聚透镜。

根据本发明的第四态样，本发明的聚光单元为透镜组。

根据本发明的第五态样，本发明的聚光单元为导光元件，导光元件包含入光面以及出光面，出光面的面积小于入光面的面积，且入光面面向发光二极管晶片，而出光面面向光感测装置。

根据本发明的第六态样，本发明的聚光单元为导光元件，且导光元件内含至少一光纤。

根据本发明的第七态样，本发明的聚光单元为一具不同折射率的多层膜片。

承上所述，本发明的检测装置，其可具有一或多个下述优点：

(1)本发明的检测装置，藉由聚光单元聚集发光二极管晶片发出的光线，以解决光感测装置收光效率不佳的问题。

(2)本发明的检测装置，藉由导光元件导引发光二极管晶片发出的光线，以提高光线通过聚光单元并到达光感测装置的机率。

(3)本发明的检测装置，可达到准确检测发光二极管晶片发光效率的目的。

【附图说明】

图1    为本发明的检测装置的第一实施例的剖面示意图。

图2    为本发明的检测装置的第二实施例的剖面示意图。

图3A   为本发明的聚光单元的第一态样剖面示意图。

图3B   至图3D分别为本发明的聚光单元的第二态样中三种示范例的剖面示意图。

图4A   为本发明的聚光单元的第三态样剖面示意图。

图4B   为本发明的聚光单元的第四态样剖面示意图。