[发明专利]污点检测

权利要求书

1.一种在介质项目上检测污损的方法，所述方法包括：

接收所述介质项目的图像，其中所述图像包括多个具有在亮度值范围内不同亮度值的像素；

使用来自具有亮度值范围中心部位内亮度值的图像的像素以创建中心加权图像；

将阈值应用到所述中心加权图像内的每一个像素以将每一个像素都转化为二进制值从而创建包含多个像素的评估图像，每一个像素都具有两个可能值中的一个；

通过将评估图像内的像素与二进制参考图像中在相应空间位置处的像素进行比较来计算出二进制参考图像与评估图像之间的差分图像，以使差分图像包括(i)在所述评估图像内的像素具有低亮度像素并且在所述二进制参考图像内相应像素具有高亮度像素的每一个空间位置处的污点像素，以及(ii)在所有其它空间位置处的无污点像素；

在差分图像满足污损标准的情况下指示所述介质项目有污损。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述污损标准包括不包含覆盖最大污损区域的污点像素的差分图像。

3.根据权利要求1所述的方法，其中所述方法包括在接收所述介质项目图像的步骤之前捕获所述介质项目图像的附加步骤。

4.根据权利要求3所述的方法，其中捕获所述介质项目图像的步骤进一步包括使用所述介质项目一侧的电磁辐射发射器和所述介质项目另一侧的电磁辐射检测器来捕获所述介质项目的传送图像。

5.根据权利要求1所述的方法，其中使用来自具有在亮度值范围中心部位内的亮度值的图像的像素以创建中心加权图像的步骤可以包括对比度扩展所接收的图像以扩展亮度值范围中心部位从而使所述中心加权图像包括对比度扩展图像。

6.根据权利要求5所述的方法，其中将阈值应用到在所述中心加权图像内每一个像素的步骤进一步包括：从创建所述二进制参考图像的参考图像中确定：

(i)阈值像素亮度，其中在所述参考图像中所有像素的百分之Y具有低于所述阈值像素亮度的像素亮度，

(ii)将第一个二进制值赋予具有低于或等于所述阈值像素亮度的像素亮度的中心加权图像中的每一个像素，并且

(iii)将第二个二进制值赋予具有高于所述阈值像素亮度的像素亮度的中心加权图像中的每一个像素。

7.根据权利要求1所述的方法，其中在计算差分图像的步骤之前，所述方法包括附加步骤：

(i)将所述评估图像的方位和所述二进制参考图像的方位进行比较，并且

(ii)在所述方位不匹配的地方，实施所述评估图像的几何变换以匹配所述二进制参考图像的方位。

8.一种编写用于实施权利要求1所述步骤的计算机程序。

9.一种介质验证器，可操作用于检测提供给所述介质验证器的介质项目上的污损，所述介质验证器包括：

用于传送介质项目的介质项目传输装置；

图像捕捉设备，其与所述介质项目传输装置对齐并且用于捕获对应于所述介质项目的二维阵列的像素，每一个像素都具有与介质项目上对应于该像素的空间位置处的介质项目性质相关的像素亮度；以及

处理器，其被编程用于控制所述介质传送和所述图像捕获设备，同时也被编程用于：

(i)接收像素的二维阵列；

(ii)中心加权所收到的像素二维阵列；

(iii)将阈值应用到在所述中心加权像素阵列中的每一个像素以将每一个像素都转成为二进制值从而创建包含多个像素的评估图像，每一个像素都具有两个可能值中的一个；

(iv)通过将在所述评估图像中的像素与在所述二进制参考图像中相应的空间位置处的像素进行比较来计算在二进制参考图像和所述评估图像之间的差分图像，以使所述差分图像包括(a)在评估图像内的像素具有低亮度像素并且在二进制参考图像内相应的像素具有高亮度像素的每一个空间位置处的污点像素，以及(b)在所有其它空间位置处的无污点像素；以及

(v)在所述差分图像满足污损标准的情况下指示所述介质项目有污损。

10.根据权利要求9所述的介质验证器，其中所述介质项目传输装置包括一个或多个环形带。

11.根据权利要求9所述的介质验证器，其中所述图像捕获设备包括具有至少像所述介质项目区域一样大的传感器区域的二维传感器。