[发明专利]LED性能测试方法

权利要求书

1. 一种LED性能测试方法，其特征在于，包括如下测试步骤：步骤一、将已知最高结温值、功率、热阻值以及额定电流值的LED样品安装在散热板上，在常温下对LED样品通入大小为额定电流值的电流，然后测算出LED样品的初始光通量值以及常温工作结温值；步骤二、将LED样品放入高温箱内，将高温箱的温度设置为LED的最高结温值与所述常温工作结温值的差值，并对LED样品通入大小为额定电流值的电流；步骤三、待LED样品通电工作预定时间后，测算出此时LED样品的高温工作结温值，将所述高温工作结温值与所述最高结温值进行比较，如若所述高温工作结温值小于所述最高结温值，则调高高温箱的温度，反之则调低高温箱的温度，如此调整高温箱的温度直至测算出来的高温工作结温值在允许的误差范围内大致等于最高结温值；步骤四、在各个不同的时间点分别测量所述LED样品的光通量值，将测量出来的各个光通量值与初始光通量值相结合进行计算，从而得到LED样品处于各个不同的时间点的光衰度值。

2. 根据权利要求1所述的LED性能测试方法，其特征在于，步骤一中LED样品的常温工作结温值是通过如下的方法测算出来的：先在LED样品的铝基板上的结温值指定测量点连接一热电偶，从而直接测出LED常温工作时的铝基板温度值，然后再用LED的功率与LED的热阻值相乘得到的乘积再加上所述LED常温工作时的铝基板温度值即可得到LED样品的常温工作结温值。

3. 根据权利要求1所述的LED性能测试方法，其特征在于，步骤二中将LED样品放入高温箱内时，需将与所述LED样品相连的导线从高温箱的侧壁孔伸出箱外后与恒流电源相连接，以对所述LED样品通入大小为额定电流值的电流。

4. 根据权利要求1所述的LED性能测试方法，其特征在于，步骤三中LED样品的高温工作结温值是通过如下的方法测算出来的：先直接测出位于高温箱中的LED样品的铝基板温度值，然后再用LED的功率与LED的热阻值相乘得到的乘积再加上所述高温箱中的LED样品的铝基板温度值即可得到LED样品的高温工作结温值。

5. 根据权利要求4所述的LED性能测试方法，其特征在于，测试位于高温箱中的LED样品的铝基板温度值时使用的是数显温度计。

6. 根据权利要求1所述的LED性能测试方法，其特征在于，步骤四中在各个不同的时间点分别测量所述LED样品的光通量值是通过如下方式进行的：当到达需进行测量的时间点时，将所述LED样品停止工作，并从高温箱中取出LED样品使其恢复至常温，再向LED样品中通入大小为额定电流值的电流，在常温下测量此时LED样品的光通量值。

7. 根据权利要求1所述的LED性能测试方法，其特征在于，测试时选择不同厂家生产的同型号的多个LED样品分成不同组进行步骤一至步骤四的各项测试，每组中的LED样品为同一厂家生产的，各LED样品通过耐温导线串联起来通入电流。

8. 根据权利要求7所述的LED性能测试方法，其特征在于，每组中LED样品的数量为2至3颗。

9. 根据权利要求7所述的LED性能测试方法，其特征在于，完成步骤四的工作之后，将各组LED样品的光衰度值进行比较，同一时间点光衰度值较小的那组LED样品则为较优产品。