[发明专利]LED性能测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试方法，尤其涉及一种LED性能测试方法。

背景技术

LED被公认为21世纪“绿色照明”，具有“高节能”“寿命长”“多变幻”“利环保”“高新尖”等特点，从而成为最具市场潜力的行业热点。但是在LED整个产业链中，由于技术上的差异，导致不同厂家所生产的LED质量参差不齐。特别是在灯具中使用的一种大功率LED，由于灯具使用的环境比较恶劣，另外加上散热问题的存在，导致普遍存在光衰及寿命的问题，因此在新产品设计开发初期需要选择多家厂家提供的LED样品测试其光衰性能，最后将各厂家的样品的测试结果进行对比以判定产品的优劣。传统的测试方法是：在常温环境中，将不同厂家的LED样品在额定工作电流下连续工作，分不同时间段对其进行光通量测量，根据测试数据值计算出其光衰度，进而再比较得出不同厂家出产的LED的优劣。然而，上述在常温环境中将LED在额定工作电流下进行工作，然后进行测试的方法，需很长时间才能测量出LED的光衰度变化，这样的方式耗时较长、试验成本较高，同时严重影响了产品的上市周期。

发明内容

本发明的主要目的是为了解决现有技术的LED性能测试方法所存在的需很长时间才能测量出各灯具的光衰度变化，故而耗时较长、试验成本较高，同时严重影响了产品的上市周期的技术问题。

为了解决上述技术问题，本发明提供一种LED性能测试方法，包括如下测试步骤：步骤一、将已知最高结温值、功率、热阻值以及额定电流值的LED样品安装在散热板上，在常温下对LED样品通入大小为额定电流值的电流，然后测算出LED样品的初始光通量值以及常温工作结温值；步骤二、将LED样品放入高温箱内，将高温箱的温度设置为LED的最高结温值与所述常温工作结温值的差值，并对LED样品通入大小为额定电流值的电流；步骤三、待LED样品通电工作预定时间后，测算出此时LED样品的高温工作结温值，将所述高温工作结温值与所述最高结温值进行比较，如若所述高温工作结温值小于所述最高结温值，则调高高温箱的温度，反之则调低高温箱的温度，如此调整高温箱的温度直至测算出来的高温工作结温值在允许的误差范围内大致等于最高结温值；步骤四、在各个不同的时间点分别测量所述LED样品的光通量值，将测量出来的各个光通量值与初始光通量值相结合进行计算，从而得到LED样品处于各个不同的时间点的光衰度值。

所述的LED性能测试方法，其中，步骤一中LED样品的常温工作结温值是通过如下的方法测算出来的：先在LED样品的铝基板上的结温值指定测量点连接一热电偶，从而直接测出LED常温工作时的铝基板温度值，然后再用LED的功率与LED的热阻值相乘得到的乘积再加上所述LED常温工作时的铝基板温度值即可得到LED样品的常温工作结温值。

所述的LED性能测试方法，其中，步骤二中将LED样品放入高温箱内时，需将与所述LED样品相连的导线从高温箱的侧壁孔伸出箱外后与恒流电源相连接，以对所述LED样品通入大小为额定电流值的电流。

所述的LED性能测试方法，其中，步骤三中LED样品的高温工作结温值是通过如下的方法测算出来的：先直接测出位于高温箱中的LED样品的铝基板温度值，然后再用LED的功率与LED的热阻值相乘得到的乘积再加上所述高温箱中的LED样品的铝基板温度值即可得到LED样品的高温工作结温值。

所述的LED性能测试方法，其中，测试位于高温箱中的LED样品的铝基板温度值时使用的是数显温度计。

所述的LED性能测试方法，其中，步骤四中在各个不同的时间点分别测量所述LED样品的光通量值是通过如下方式进行的：当到达需进行测量的时间点时，将所述LED样品停止工作，并从高温箱中取出LED样品使其恢复至常温，再向LED样品中通入大小为额定电流值的电流，在常温下测量此时LED样品的光通量值。

所述的LED性能测试方法，其中，测试时选择不同厂家生产的同型号的多个LED样品分成不同组进行步骤一至步骤四的各项测试，每组中的LED样品为同一厂家生产的，各LED样品通过耐温导线串联起来通入电流。

所述的LED性能测试方法，其中，每组中LED样品的数量为2至3颗。

所述的LED性能测试方法，其中，完成步骤四的工作之后，将各组LED样品的光衰度值进行比较，同一时间点光衰度值较小的那组LED样品则为较优产品。