[发明专利]一种闪存交织校验纠错方法及闪存控制器

权利要求书

1.一种闪存交织校验纠错方法，所述闪存物理块包括个N逻辑页，每个逻辑页包括M扇区，N、M均为偶数，S(m,n)表示物理块中的一个存储扇区，其中，m为该扇区在逻辑页中的序号，m∈[1,M]，n为该扇区所处逻辑页的序号，n∈[1,N]，其特征在于，

在写数据时，S(m,N)扇区不作为数据存储区，而是作为冗余校验区，且命名为校验扇区E(i,N)，i∈[1,M]；校验扇区E(i,N)根据下列公式的生成：

当i=1,M时：

E(i,N)=S(i+1,1)⊕S(i,2)⊕S(i+1,3)···⊕S(i,N-2)⊕S(i+1,N-1)]]>

当1<i<M时：

E(i,N)=S(i-1,1)⊕S(i+1,1)⊕S(i,2)⊕S(i-1,3)⊕S(i+1,3)···]]>

⊕S(i-1,N-1)⊕S(i+1,N-1)]]>

上式中，公式等号右边的数据扇区S与E(i,N)共同构成了校验链C(i)；

在读数据时，闪存控制器采用通常的校验码纠错失败时，查找出错扇区S’(i,j)所对应的校验扇区E(i,N)，然后，查找同时包含该校验扇区E(i,N)和出错扇区S’(i,j)的校验链C(i)；计算获取出错扇区S’(i，j)中错误比特的位置U(i)，如下公式所示：

当i=1,N时：

U(i)=S(i+1,1)⊕S(i,2)⊕S(i+1,3)···⊕S(i,N-2)⊕S(i+1,N-1)⊕E(i,N)]]>

当1<i<N时：

U(i)=S(i-1,1)⊕S(i+1,1)⊕S(i,2)⊕S(i-1,3)⊕S(i+1,3)···]]>

⊕S(i-1,N-1)⊕S(i+1,N-1)⊕E(i,N)]]>

U(i)为“1”则表示S’(i，j)在该比特位上的数据信息有错；翻转出错扇区S’(i，j)中U(i)为“1”的比特位上的数据，即得到正确的数据。