[发明专利]一种阵列基板检测方法、检测装置及检测系统

权利要求书

1.一种阵列基板检测方法，其特征在于，包括：

获取发生短路的两条金属配线在阵列基板上的排列位置，以及发生短路的两条金属配线之间的电压值；

根据所述电压值与从金属配线一端到短路点的长度的对应关系，确定在金属配线上短路发生的坐标位置。

2.如权利要求1所述的阵列基板检测方法，其特征在于，所述电压值与从金属配线一端到短路点的长度的对应关系具体为：

V₁=V*L₁/L

其中，V₁为发生短路的两条金属配线之间的电压值，V为电源输出的电压值，L₁为从金属配线一端到短路点的长度，L为金属配线的总长。

3.如权利要求1所述的阵列基板检测方法，其特征在于，所述发生短路的两条金属配线在阵列基板上的排列位置具体通过依次测量相邻两条金属配线之间的电阻值获得，当所述相邻两条金属配线之间的电阻值小于设定阈值时，确定所述相邻两条金属配线之间发生短路，所述发生短路的两条金属配线在阵列基板上的排列位置随之确定。

4.如权利要求1所述的阵列基板检测方法，其特征在于，所述发生短路的两条金属配线在阵列基板上的排列位置具体通过依次测量相邻两条金属配线之间的电压值获得，当所述相邻两条金属配线之间的电压值大于零时，确定所述相邻两条金属配线之间发生短路，所述发生短路的两条金属配线在阵列基板上的排列位置随之确定。

5.一种阵列基板检测装置，其特征在于，包括：

获取设备，用于获取发生短路的两条金属配线在阵列基板上的排列位置，以及发生短路的两条金属配线之间的电压值；

控制设备，用于根据所述电压值与从金属配线一端到短路点的长度的对应关系，确定在金属配线上短路发生的坐标位置。

6.如权利要求5所述的阵列基板检测装置，其特征在于，所述获取设备用于依次获取相邻两条金属配线之间的电阻值，当所述相邻两条金属配线之间的电阻值小于设定阈值时，确定所述相邻两条金属配线之间发生短路，所述发生短路的两条金属配线在阵列基板上的排列位置随之确定。

7.如权利要求5所述的阵列基板检测装置，其特征在于，所述获取设备用于依次获取相邻两条金属配线之间的电压值，当所述相邻两条金属配线之间有电压值大于零时，确定所述相邻两条金属配线之间发生短路，所述发生短路的两条金属配线在阵列基板上的排列位置随之确定。

8.一种阵列基板检测系统，其特征在于，包括：

短路测量装置，用于确定发生短路的两条金属配线在阵列基板上的排列位置；

电压测量装置，用于测量发生短路的两条金属配线之间的电压值；

控制装置，分别与所述短路测量装置和电压测量装置信号连接，用于根据发生短路的两条金属配线在阵列基板上的排列位置，以及所述电压值与从金属配线一端到短路点的长度的对应关系，确定在金属配线上短路发生的坐标位置。

9.如权利要求8所述的阵列基板检测系统，其特征在于，所述短路测量装置为电阻测量装置，包括：两个测量探针，以及与所述两个测量探针信号连接的电阻测量仪。

10.如权利要求8所述的阵列基板检测系统，其特征在于，所述短路测量装置为电压测量装置，包括：两个测量探针，与所述两个测量探针信号连接的电压测量仪。