[发明专利]自适应量程电阻测试方法

权利要求书

1.一种自适应量程电阻测试方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

S1、在电阻上通入电流I_a，使电阻两端形成电压差，设置测试量程为V_lim1；

S2、在电流I_a下测量电阻两端的电压差V_a1；

S3、在电阻上通入电流I_b，使电阻两端形成电压差，以V_a1为基数设置新的测试量程V_lim2，其中V_a1、I_b、V_a1和I_a满足V_lim2/I_b≥V_a1/I_a；

S4、在电流I_b下测量电阻两端的电压差V_a2；

S5、根据I_b和V_a2测算并输出电阻两端的阻值。

2.根据权利要求1所述的自适应量程电阻测试方法，其特征在于，所述V_a1、I_b、V_a1和I_a满足(V_lim2/I_b)/(V_a1/I_a)=k，k为常数且1≤k≤1.2，步骤S3中新的测试量程V_lim2为k*V_a1*(I_b/I_a)。

3.根据权利要求2所述的自适应量程电阻测试方法，其特征在于，所述(V_lim2/I_b)/(V_a1/I_a)=k中，k设为常数1.1，步骤S3中新的测试量程V_lim2为1.1V_a1*(I_b/I_a)。

4.根据权利要求2所述的自适应量程电阻测试方法，其特征在于，所述电流I_b=I_a，步骤S3中新的测试量程V_lim2为k*V_a1。

5.根据权利要求2所述的自适应量程电阻测试方法，其特征在于，所述电流I_b=I_a/k，步骤S3中新的测试量程V_lim2为V_a1。

6.根据权利要求1所述的自适应量程电阻测试方法，其特征在于，所述电阻一端通入电流，另一端接零电位。

7.根据权利要求1所述的自适应量程电阻测试方法，其特征在于，所述步骤S5中电阻两端的阻值为V_a2/I_b。

8.根据权利要求1所述的自适应量程电阻测试方法，其特征在于，所述测试量程为V_lim1时，电阻的测量分辨率为0.0001V_lim1；测试量程为V_lim2时，电阻的测量分辨率为0.0001V_lim2。