[发明专利]用于确定内部的层的粗糙度的方法

权利要求书

1.用于确定在不导电层（13）下方的金属衬底（4）的或金属层（7）的内部的表面（11）的粗糙度的方法，其中，穿过所述不导电层（13），特别是陶瓷层（13），至少在外部的不导电层（13）和内部的衬底（4）或层（7）的过渡区域（10）中逐层地测量至少一个材料参数（P），直至所述材料参数升高并且达到最大的平稳值（25），

其中，在所述过渡区域（10）中的所述材料参数（P）与对比样本的粗糙度相互关联，其中，该粗糙度特别是通过显微照片预先测定。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，将电导率确定作为材料参数（P）。

3.根据权利要求1或2中的一项或两项所述的方法，其中，将热导率确定作为材料参数（P）。

4.如权利要求1、2或3中的一项或多项所述的方法，其中，测量由衬底（4）、金属层（7）和最外部的陶瓷层（13）构成的层系统。