[发明专利]一种有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法有效
申请号: | 201210435207.2 | 申请日: | 2012-11-02 |
公开(公告)号: | CN102945030A | 公开(公告)日: | 2013-02-27 |
发明(设计)人: | 严丽辉;赵伟;柯陈宾 | 申请(专利权)人: | 上海华力微电子有限公司 |
主分类号: | G05B19/418 | 分类号: | G05B19/418 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 竺路玲 |
地址: | 201210 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 有效 控制 生产过程 生产 周期 失控 方法 | ||
1.一种有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法,其特征在于,
于一站点上,对已送达的所有lot进行组别划分;
确认每个lot的交货期;
计算每个lot的紧迫性系数;
根据所述紧迫性系数重新赋予上述每个lot的优先级;
根据优先级依次对每个lot进行该站点的制程工艺。
2.根据权利要求1所述的有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法,其特征在于,进行所述组别划分时去除紧急批次的lot和异常的lot,紧急批次的lot先于设定有优先级的lot进行该站点的制程工艺。
3.根据权利要求2所述的有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法,其特征在于,所述异常的lot包括缓存批次lot,有划痕的lot和刻意减缓进度的lot。
4.根据权利要求1所述的有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法,其特征在于,所述每个lot的交货期采用公式D=D1+Z+N进行确定,D为lot的交货期,D1为lot的下线日期,Z为lot承诺的生产周期,N为缓存天数。
5.根据权利要求1所述的有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法,其特征在于,采用公式C=(D-D2)/(S-X)计算每个lot的紧迫性系数,C为lot的紧迫性系数,D为lot的交货期,D2为当前日期,S为lot的制程总站点数,X为lot已完成站点数。
6.根据权利要求1所述的有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法,其特征在于,lot的优先级级别数与该lot的紧迫性系数成反比。
7.根据权利要求1-6任意一项所述的有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法,其特征在于,每隔一定时间后,重复上述步骤以重新确定该站点送达的每个lot的优先级。
8.根据权利要求7所述的有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法,其特征在于,每隔12个小时,重复重新确定该站点送达的每个lot的优先级一次。
9.根据权利要求7所述的有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法,其特征在于,根据所述紧迫性系数可赋予上述lot为紧急批次。
10.根据权利要求8所述的有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法,其特征在于,根据所述紧迫性系数赋予上述lot为紧急批次时,交货期小于或等于当前日期值。
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