[发明专利]一种有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法有效
申请号: | 201210435207.2 | 申请日: | 2012-11-02 |
公开(公告)号: | CN102945030A | 公开(公告)日: | 2013-02-27 |
发明(设计)人: | 严丽辉;赵伟;柯陈宾 | 申请(专利权)人: | 上海华力微电子有限公司 |
主分类号: | G05B19/418 | 分类号: | G05B19/418 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 竺路玲 |
地址: | 201210 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 有效 控制 生产过程 生产 周期 失控 方法 | ||
技术领域
本发明涉及半导体制造领域,尤其涉及一种有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法。
背景技术
目前,在工厂实现大规模量产后,其产品的生产周期均是由人工控制,即当发现某lot的准时交货时间有问题时,只能通过人工方式改变该lot的优先权,以使得该lot能够准时交货;但由于是人工控制,而且都是当lot的交货时间可能滞后才对lot的优先级进行调控,很容易由于调控不当或时间紧迫,需要付出成倍的人力和产能才能准时交货,甚至有些lot的生产周期失控根本就无法赶上交货时间,从而严重影响准时交货率。
图1是本发明背景技术中由于生产周期失控造成不良影响的示意图;如图1所示,当客户将大量订单交付给工厂后,由于线上产品多且复杂,人工调控不当易造成生产周期的失控,进而影响产品的准时交货率,最终造成客户满意度的降低而丧失订单,使得工厂蒙受巨大的损失;如某一lot的优先级是4,但由于在某个站点进程(process)问题被耽搁(hold)两天,当恢复进程(release)后没有被注意到,势必会影响该lot的准时交货率。
图2是本发明背景技术中采用人工控制的产品生产周期的正态分布图,纵轴表示lot数量比例,横轴表示生产周期(单位为天/光罩层);如图2所示,方框a中的曲线表示生产周期超速部分,会造成产能的浪费,而方框b中的曲线则表示生产周期较差,即生产周期失控部分,失控的异常值会大大影响产品的准时交货率;所以,要想控制生产周期的失控及产能的浪费,要将方框a和b中的曲线想中间部分收敛才行。
发明内容
针对上述存在的问题,本发明揭示了一种有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法(A effective Fab cycle time control method),主要是通过自动设定并及时更新每个lot的紧迫系数,自动调控站点上每个lot的优先级。
本发明的目的是通过下述技术方案实现的:
本发明一种有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法,其中,
于一站点上,对已送达的所有lot进行组别划分;
确认每个lot的交货期;
计算每个lot的紧迫性系数;
根据所述紧迫性系数重新赋予上述每个lot的优先级;
根据优先级依次对每个lot进行该站点的制程工艺。
上述的有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法,其中,进行所述组别划分时去除紧急批次的lot和异常的lot,紧急批次的lot先于设定有优先级的lot进行该站点的制程工艺。
上述的有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法,其中,所述异常的lot包括缓存批次lot,有划痕的lot和刻意减缓进度的lot。
上述的有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法,其中,所述每个lot的交货期采用公式D=D1+Z+N进行确定,D为lot的交货期,D1为lot的下线日期,Z为lot承诺的生产周期,N为缓存天数。
上述的有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法,其中,采用公式C=(D-D2)/(S-X)计算每个lot的紧迫性系数,C为lot的紧迫性系数,D为lot的交货期,D2为当前日期,S为lot的制程总站点数,X为lot已完成站点数。
上述的有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法,其中,lot的优先级级别数与该lot的紧迫性系数成反比。
上述的有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法,其中,每隔一定时间后,重复上述步骤以重新确定该站点送达的每个lot的优先级。
上述的有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法,其中,每隔12个小时,重复重新确定该站点送达的每个lot的优先级一次。
上述的有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法,其中,根据所述紧迫性系数可赋予上述lot为紧急批次。
上述的有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法,其中,根据所述紧迫性系数赋予上述lot为紧急批次时,交货期小于或等于当前日期的值。
上述的有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法,通过如计算机等自动控制装置实现每个站点上各个lot优先级的重新赋予及更新,以实现对产品生产周期自动优化处理的目的。
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