[发明专利]抑制辐射引起的背栅泄漏电流的SOI器件及其制备方法

说明书

技术领域

本发明涉及SOI器件，具体涉及一种抑制辐射引起的背栅泄漏电流的SOI器件及其制备方法。

背景技术

绝缘衬底上的硅（Silicon-On-Insulator）SOI在顶层硅和衬底之间引入了一层埋氧层，从而SOI场效应晶体管相比于传统体硅器件，具有寄生电容小，器件功耗低的优点，且SOI器件消除了闩锁效应，在高性能超大集成电路、高速存贮设备、低功耗电路、高温传感器等领域具有极其广阔的应用前景。现有技术中的SOI器件包括：衬底、埋氧层、半导体体区、栅区、源区和漏区、栅侧墙和轻掺杂漏LDD区；其中，埋氧层位于衬底之上，半导体体区及源区和漏区位于埋氧层之上，并且半导体体区位于源区和漏区之间，LDD区位于半导体体区的两侧顶端，栅区位于半导体体区之上，两个栅侧墙分别位于栅区的两侧并在LDD区之上，如图1所示。但是现有的SOI器件组成的电子系统应用在空间辐射环境、核辐射环境、模拟源环境和地面辐射环境时，尽管埋氧层抑制了衬底的脉冲电流的干扰，但光子、电子及高能离子等带电离子还是会在SOI器件的埋氧层产生严重的电离损伤。随着半导体技术的发展，SOI的栅氧化层厚度小于10纳米，SOI器件在栅氧化层的电离损伤对SOI器件性能的影响可以忽略不计，但是SOI器件的厚埋氧层却依然对辐射的电离损伤十分敏感。在辐射环境下，带电离子在埋氧层引入陷阱电荷。SOI器件的埋氧层是二氧化硅，不同工艺生成的SOI基片的埋氧层中的陷阱对空穴的俘获效率（trapping efficient）相比于对电子的俘获效率大二到三个数量级，所以埋氧层中电子的俘获可以忽略。辐射电离损伤产生的空穴陷入在埋氧层中会使背栅下的沟道发生反型，如果该反型通道连接SOI器件的源区和漏区则会在SOI器件正常工作时引入泄漏通道。电离损伤效应在SOI器件埋氧层中产生泄漏通道会造成SOI器件截止态泄漏电流及器件功耗的增加，并会引起一系列的可靠性问题。如何提高SOI器件的抗辐射特性，以改善整个互补金属氧化物半导体CMOS集成电路的抗辐照特性，成为现阶段亟待解决的一个总剂量辐照可靠性问题。

因此改善SOI器件的结构以抑制背栅泄漏通道的形成，对研究SOI抗辐射加固电路有着十分重要的意义。

发明内容

为了抑制SOI器件间由辐射生成的泄漏电流对SOI集成电路造成的可靠性和功耗等问题，在SOI原有的器件结构上，本发明提出具有新结构的SOI器件来改善器件的辐射响应。

本发明的一个目的在于提出一种抑制辐射引起的背栅泄漏电流的SOI器件。

本发明的SOI器件包括：衬底、埋氧层、半导体体区、栅区、源区和漏区、栅侧墙和轻掺杂漏LDD区；其中，埋氧层位于衬底之上，半导体体区及源区和漏区位于埋氧层之上，并且半导体体区位于源区和漏区之间，LDD区位于半导体体区的两侧顶端，栅区位于半导体体区之上，两个栅侧墙分别位于栅区的两侧并在LDD区之上；进一步，包括防泄漏区，防泄漏区凹陷在埋氧层内，并且位于半导体体区之下。

本发明的SOI器件刻蚀埋氧层形成一个凹陷区，此凹陷区的厚度为10纳米到20纳米，在此凹陷区外延生长上半导体材料，并对半导体材料离子注入进行掺杂，形成防泄漏区。防泄漏区的长度与半导体体区的长度相同，厚度为10纳米到20纳米。防泄漏区采用的半导体材料与半导体体区的材料相同；掺杂类型与半导体体区的掺杂类型相同。按照掺杂浓度的不同，防泄漏区分为三个部分：第一部分、第二部分和第三部分；其中，第一部分和第三部分位于防泄漏区的两端，分别靠近源区和漏区，两者之间为第二部分；第一部分和第三部分的掺杂浓度与半导体体区的掺杂浓度相同，同为轻掺杂；第二部分的掺杂浓度与源区和漏区的掺杂浓度相同，同为重掺杂。第一部分和第三部分的长度与LDD区的长度相等。

本发明的另一个目的在于提供一种上述抑制辐射引起的背栅泄漏电流的SOI器件的制备方法。

本发明的抑制辐射引起的背栅泄漏电流的SOI器件的制备方法，包括以下步骤：

1）准备SOI基片，包括衬底、埋氧层和上层区；

2）利用第一光刻版，采用光刻技术，留出埋氧层中的凹陷区的图形，刻蚀上层区，控制刻蚀时间和刻蚀深度，在埋氧层中形成凹陷区；

3）在凹陷区外延生长一层半导体材料；

4）第一次离子注入，对埋氧层中的凹陷区外延生长的半导体材料形成轻掺杂；

5）淀积一层绝缘体材料作为第二次离子注入的阻挡层；

6）利用第二光刻版，进行第二次光刻，刻蚀形成将要进行重掺杂的防泄漏区的第二部分的窗口；