[发明专利]一种磨粒流加工控制叶片气膜孔重熔层去除量的方法有效
申请号: | 201210440460.7 | 申请日: | 2012-11-07 |
公开(公告)号: | CN103056782A | 公开(公告)日: | 2013-04-24 |
发明(设计)人: | 李凤清;陈靖波;闫德海;姜绍西;夏爽 | 申请(专利权)人: | 沈阳黎明航空发动机(集团)有限责任公司 |
主分类号: | B24C1/00 | 分类号: | B24C1/00 |
代理公司: | 沈阳东大专利代理有限公司 21109 | 代理人: | 李运萍 |
地址: | 110043 *** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 磨粒流 加工 控制 叶片 气膜孔重熔层 去除 方法 | ||
1.一种磨粒流加工控制叶片气膜孔重熔层去除量的方法,其特征在于按照以下步骤进行:(1)首先将至少10个经电火花加工后直径为D的叶片气膜孔纵向解剖,并对解剖后的气膜孔壁进行金相检测,在金相图上得到每个气膜孔重熔层厚度最大值的平均数δ;
(2)选取五组,每组至少10个直径为D的叶片气膜孔,采用磨粒流设备,在6.5MPa的条件下,对每组叶片气膜孔进行磨削加工,在加工过程中,实时利用光面塞规对每一次磨削后的气膜孔孔径进行测量,控制第一组叶片气膜孔孔径为D+δ,第二组叶片气膜孔孔径为D+1.5δ,第三组叶片气膜孔孔径为D+2δ,第四组叶片气膜孔孔径为D+2.5δ,第五组叶片气膜孔孔径为D+3δ;
(3)将上述经磨粒流加工后的每组叶片气膜孔纵向解剖,对解剖后的经磨粒流加工的气膜孔壁进行金相检测,在金相图上观察每组气膜孔重熔层的厚度,并得到每组的气膜孔重熔层平均去除量d,将每组的d值与气膜孔重熔层厚度最大值平均数δ相比较,其中,D+δ和D+1.5δ组的重熔层平均去除量d<2δ, D+2.5δ和D+3δ组的重熔层平均去除量d>2δ,而D+2δ组的重熔层平均去除量d≈2δ,即确定当磨粒流加工控制加工后的叶片气膜孔为D+2δ时,重熔层的去除量最佳、效率最好;
(4)将进行批量加工的叶片气膜孔置于磨粒流设备中,在6.5MPa的条件下,对叶片气膜孔进行磨削加工,在加工过程中,实时利用光面塞规对每一次磨削后的气膜孔孔径进行测量,向加工中直径最先达到D+2δ的气膜孔中塞入弯成U型的钢丝,直至所有待加工的气膜孔孔径均达到D+2δ,停止磨粒流加工,气膜孔内的重熔层全部去除。
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