[发明专利]电子产品EDA设计可制造性的可视化检测方法有效

专利信息
申请号: 201210456732.2 申请日: 2012-11-14
公开(公告)号: CN102930114A 公开(公告)日: 2013-02-13
发明(设计)人: 龙绪明;黄昊;贾建军;钟劫;李巍俊;张治敏;杨飞;任伯宇;闫明;严如俊;崔晓璐 申请(专利权)人: 常州奥施特信息科技有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 代理人: 徐琳淞
地址: 213023 江苏省常州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 电子产品 eda 设计 制造 可视化 检测 方法
【权利要求书】:

1.电子产品EDA设计可制造性的可视化检测方法,其特征在于:对EDA设计文件进行PCB 3D仿真,然后依次进行PCB物理参数检测检测、PCB可装配性检测、PCB焊接质量检测和Gerber BOM坐标检测,并在PCB 3D仿真图形上3D可视化显示前述四项检测的具体错误位置和类型。

2.根据权利要求1所述的电子产品EDA设计可制造性的可视化检测方法,其特征在于包括以下步骤:

步骤一:EDA输入:将EDA 设计文件或Gerber文件提取信息,转换成一个具有统一格式的PCB 中间文件;

步骤二:根据生成的PCB 中间文件,建立虚拟制造系统的仿真模型,自动进行PCB 3D仿真;

步骤三:设定工厂设备参数及加工要求;

步骤四:进行PCB物理参数检测:按照IPC国际标准的元器件密度设计规则,进行PCB设计参数检测检测,在PCB 3D仿真图形上3D可视化闪烁显示虚拟PCB的物理参数的具体错误位置和类型;                

步骤五:进行PCB可装配性检测:按照步骤三设定的工厂设备参数及加工要求,进行PCB可装配性检测,在PCB 3D仿真图形上3D可视化闪烁显示虚拟PCB上的可装配性错误的位置和类型;所述PCB可装配性检测包括SMT装配性检测、机插排列检测和BOM坐标检测;

步骤六:进行PCB焊接质量检测:按照IPC国际标准,进行焊接质量检测,在PCB 3D仿真图形上3D可视化闪烁显示虚拟PCB上的焊接错误的位置和类型;所述PCB焊接质量检测包括PCB元器件排列检测和PCB焊盘宽度检测;

步骤七:进行Gerber BOM坐标检测:检测位料BOM文件坐标与Gerber文件坐标是否一致,在PCB 3D仿真图形上3D可视化闪烁显示虚拟PCB上的位料BOM文件坐标与Gerber文件坐标是否一致。

3.根据权利要求2所述的电子产品EDA设计可制造性的可视化检测方法,其特征在于:所述步骤一的具体方法为:提取EDA 设计文件的元器件信息和焊盘信息,并转换成可虚拟仿真的虚拟EDA文档EDASim.txt;再分别提取Gerber 文档和BOM文档的元器件信息,并转换成可虚拟仿真的虚拟PCB 文档PCBSim.txt;所述EDA 设计文件包括由Protel或PowerPCB或OrCAD或Candence或MentorED设计软件形成的EDA设计文件。

4.根据权利要求2所述的电子产品EDA设计可制造性的可视化检测方法,其特征在于:所述步骤二的具体方法为:根据提取的虚拟EDA文档EDASim.txt和虚拟PCB 文档PCBSim.txt,建立虚拟仿真模型,并自动进行PCB 3D动态仿真;所述步骤四为:根据提取的虚拟EDA文档EDASim.txt,按照IPC国际标准的元器件密度设计规则,进行PCB设计参数检测检测;所述步骤五为:根据提取的虚拟EDA文档EDASim.txt及步骤三设定的工厂设备参数及加工要求,进行PCB可装配性检测;所述步骤六为:根据提取的虚拟EDA文档EDASim.txt,按照IPC国际标准,进行焊接质量检测。

5.根据权利要求2至4之一所述的电子产品EDA设计可制造性的可视化检测方法,其特征在于:所述步骤五中的PCB可装配性检测的SMT装配性检测内容包括检测EDA设计的:元器件间距、PCB尺寸、标号中心与PCB边缘距离、夹持边宽度、定位孔中心与PCB边缘距离和立插元件引脚孔距;所述PCB可装配性检测的机插排列检测为根据步骤三所设置的机插排列规则,检测EDA设计的PCB机插元器件间距和排列方向是否符合要求;所述PCB可装配性检测的BOM坐标检测为检测位料BOM文件坐标与EDA设计的PCB坐标是否一致;前述三项检测均显示装配性错误列表、说明错误类型,点击列表上的任一错误行,则在PCB 3D仿真图形上3D可视化闪烁显示虚拟PCB上的具体错误位置和类型。

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