[发明专利]用于磁头-介质和凹凸体检测的电阻温度传感器

说明书

相关专利文献

本申请要求均于2010年11月17日提交的临时专利申请SN 61/414,733和61/414,734的权益，这些优先权是遵照35U.S.C.§119(e)要求的并各自全部援引包含于此。

发明内容

本公开的实施例针对用于检测磁头-介质接触的装置，该装置包括磁头换能器和位于磁头换能器的接近点处或附近并配置成测量接近点处或附近的温度的温度传感器。测得的温度响应于磁头换能器和磁记录介质之间的间距的改变而改变。检测器耦合于温度传感器并被配置成检测用于指示磁头换能器和介质之间的接触的开始的测得温度的DC分量的变化。

根据其它实施例，一种用于检测磁头-介质接触的方法涉及随着磁记录介质相对于磁头换能器移动而测量在磁头-盘界面处的温度，测得的温度响应于磁头换能器和介质之间的间距的改变而变化。该方法还涉及检测指示磁头换能器和介质之间的接触的开始的测得温度的DC分量的变化。

根据各个实施例，一种装置包括磁头换能器和位于磁头换能器上用以与磁记录介质的凹凸体（asperity）相互作用的传感器。该传感器包括具有高的电阻温度系数的感测元件。导电引体（lead）连接于感测元件。引体相对于感测元件具有低的电阻温度系数，这种引体中热诱导电阻的变化对感测元件对凹凸体的响应具有可以忽略的影响。

根据又一些实施例，一种方法涉及：相对于磁头换能器移动磁记录介质，并使用传感器感测介质的凹凸体，所述传感器包括具有高的电阻温度系数的感测元件，所述感测元件耦合至相对于感测元件具有低的电阻温度系数的导电引体，以使引体中的热诱导电阻的变化对于感测元件对凹凸体的响应具有可忽略的影响。

可鉴于下面的详细描述和附图来理解各实施例的这些和其它的特征和方面。

附图说明

图1是根据各实施例结合温度传感器的加热器致动的磁头换能器结构的简化侧视图；

图2是图1中示出的加热器致动的磁头换能器结构的前视图；

图3示出处于预致动配置和致动配置下的图1和图2的加热器致动的磁头换能器结构；

图4A示出在磁头换能器和磁记录盘的表面之间接触之前、之中和之后图1-3所示类型的加热器致动的记录磁头换能器的代表性温度曲线；

图4B示出在磁头换能器和磁记录盘的表面之间接触之前、之中和之后非热可致动的记录磁头换能器的代表性温度曲线；

图5示出根据各实施例的磁头-介质接触方法的各个过程；

图6示出根据其它实施例的磁头-介质接触方法的各个过程；

图7示出根据各实施例的用于检测磁头-介质接触的装置的视图；

图8A和8B示出根据各实施例的电阻温度传感器；

图8C是图8A和8B所示的传感器元件的分解图；

图9是根据各个实施例的具有提高的凹凸体检测保真度的电阻温度传感器的平面图；以及

图10和图11给出根据各个实施例的展示适用于电阻温度传感器的感测元件的电阻材料的特定温度系数的功效的数据和标绘图。

具体实施方式

数据存储系统一般包括将信息读取和写入至记录介质的一个或多个记录磁头。一般希望在记录磁头与其相关联的介质之间具有相对小的距离或间距。该距离或间距被称为“飞行高度”或“磁头-介质间距”。通过减小磁头-介质间距，记录磁头通常能够更好地将数据写至介质和从介质读出数据。减小磁头-介质间距也允许勘察记录介质形貌，例如检测记录介质表面的凹凸体和其它特征。

记录磁头换能器通常被设置成离介质具有最低可靠间距以获得最高记录密度。磁头介质接触检测在设置这种低磁头-介质间距中是关键的。一些传统系统使用归因于大偏斜角下的接触摩擦的磁头脱离磁道运动来测量磁头-介质接触。这些系统仅在介质表面的内径和外径上有效，并且不具有在介质表面的所有位置测量磁头-介质接触的能力。

其它传统方法使用磁头-盘调制以通过使用磁头换能器上的读取器或附加传感器(例如热传感器)来检测接触。然而，调制使数据记录系统劣化，且未来的记录系统将不得不取消调制以达成较低的磁性间距和较高的面积密度。目前，没有一种传统系统能横跨驱动器中的整个介质表面检测无调制界面的磁头-介质接触。