[发明专利]一种基于通用调试接口的SoC硬件调试器无效
申请号: | 201210466402.1 | 申请日: | 2012-11-16 |
公开(公告)号: | CN102968364A | 公开(公告)日: | 2013-03-13 |
发明(设计)人: | 段青亚;陈庆宇;盛廷义;赵恒星;李剑 | 申请(专利权)人: | 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所 |
主分类号: | G06F11/26 | 分类号: | G06F11/26 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 汪人和 |
地址: | 710054 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 通用 调试 接口 soc 硬件 | ||
1.一种基于通用调试接口的SoC硬件调试器,其特征在于,包括通用调试接口、TAP控制器、扫描链、调试控制寄存器模块、同步模块、JTAG-AHB协议转换模块、AHB-DMA模块、AHB总线控制器、调试支持模块、SoC外设模块和支持调试的处理器;
通用调试接口连接外部调试设备,并将调试信息通过TAP控制器控制的扫描链更新到调试控制寄存器模块;
调试控制寄存器模块通过同步模块将调试信息送入JTAG-AHB协议转换模块;调试控制寄存器模块与同步模块双向连接,其间信号的传输方向由通用调试接口的调试信息决定;
JTAG-AHB协议转换模块将同步模块发送的包含调试信息的原语转化为符合AHB协议的总线读写操作,并将其发送至AHB-DMA同步模块;
AHB-DMA模块根据JTAG-AHB协议转换模块发送的总线读写操作,向AHB总线控制器发起使用AHB总线的请求,待得到使用AHB总线授权且SoC处于调试模式时,通过访问调试支持模块、支持调试的处理器和SoC外设模块来对SoC系统进行调试。
2.如权利要求1所述的基于通用调试接口的SoC硬件调试器,其特征在于,调试主机通过JTAG协议转换模块将调试信息发送至通用调试接口,所述的调试接口符合IEEE 1149调试接口标准。
3.如权利要求1所述的基于通用调试接口的SoC硬件调试器,其特征在于,所述的TAP控制器支持JTAG的所有公有指令及用于控制扫描链的私有指令;
所述的扫描链包括三条扫描链,其中,扫描链0用于更新调试控制寄存器模块的命令寄存器;扫描链1用于更新调试控制寄存器模块的地址寄存器;扫描链2用于读写调试控制寄存器模块的数据寄存器,并表明调试的状态。
4.如权利要求3所述的基于通用调试接口的SoC硬件调试器,其特征在于,所述的用于控制扫描链的私有指令包括:cmd、addr和data,其中cmd经过TAP控制器译码,用于更新扫描链0;add经过TAP控制器译码,用于更新扫描链1;data经过TAP控制器译码,用于更新扫描链2,并通过扫描链读写调试控制寄存器模块的接口信号。
5.如权利要求1所述的基于通用调试接口的SoC硬件调试器,其特征在于,所述的调试控制寄存器模块,包括命令寄存器、地址寄存器和数据寄存器,
命令寄存器包含调试信息中的读写信息,地址寄存器包含调试信息中的地址信息,数据寄存器包含调试信息中的数据信息;
当命令寄存器的信息为写时,调试模块向地址寄存器中规定的地址写入数据寄存器中的数值;
当命令寄存器的信息为读时,调试模块读出地址寄存器中规定的地址的数据信息,并将数据存放到数据寄存器,等待调试主机读取。
6.如权利要求1所述的基于通用调试接口的SoC硬件调试器,其特征在于,所述的同步模块包含多个脉冲到脉冲的同步电路模块。
7.如权利要求1所述的基于通用调试接口的SoC硬件调试器,其特征在于,所述的调试支持模块包含A、B两类寄存器,其中A类寄存器用于控制支持调试的处理器的调试,B类寄存器用于反应支持调试的处理器的状态。
8.如权利要求1所述的基于通用调试接口的SoC硬件调试器,其特征在于,所述的支持调试的处理器包括处理器逻辑和支持调试的逻辑块。
9.如权利要求1所述的基于通用调试接口的SoC硬件调试器,其特征在于,在调试时包括以下信号往来:
信号s0连接至芯片管脚,包括向调试系统提供时钟的时钟信号,和在调试系统出现错误时提供复位的复位信号;
信号s1为命令输入接口,调试命令帧格式符合GAISLER实验室的标准;
信号s2为调试地址输入接口;
信号s3为调试数据输入输出接口;
信号s4有效时表示调试主机要求读的数据准备好,TAP控制器通过不断捕获该信号判断读一个字操作是否完成;
信号s5其有效时表示整个调试读请求完成,TAP控制器通过不断捕获该信号判断读操作是否完成;
信号s6、s7、s8、s9由TAP控制器发出,连接至调试控制寄存器模块,决定将信息写入调试控制寄存器模块中的那一个寄存器;
信号d1~d7是经过同步处理的信号,且都处于调试系统时钟域内,其中,d1是调试命令;d2是调试地址;d3是调试的数据;d4、d5是读完成的表示信号,d4、d5经过同步模块转变成s4、s5;d6、d7为JTAG-AHB协议转换模块的控制信号。
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