[发明专利]一种基于通用调试接口的SoC硬件调试器无效
申请号: | 201210466402.1 | 申请日: | 2012-11-16 |
公开(公告)号: | CN102968364A | 公开(公告)日: | 2013-03-13 |
发明(设计)人: | 段青亚;陈庆宇;盛廷义;赵恒星;李剑 | 申请(专利权)人: | 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所 |
主分类号: | G06F11/26 | 分类号: | G06F11/26 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 汪人和 |
地址: | 710054 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 通用 调试 接口 soc 硬件 | ||
技术领域:
本发明属于半导体集成电路领域,涉及一种基于通用调试接口的SoC硬件调试器。
背景技术:
根据SoC(片上系统)调试过程中使用的资源,SoC调试可以分为软件调试和硬件调试。软件调试主要是在运行的程序中驻留监控程序,其实现的调试功能较为简单,已经不能满足实际的工程需要;硬件调试的策略是在SoC系统中集成支持调试的相关功能模块,通过调试主机对这些功能模块进行操作,从而快速定位SoC电路使用中出现的问题,硬件调试已经成为目前SoC工程应用中调试技术的主流。
典型的基于硬件的调试系统如图1中的100所示。高层调试工具101是调试人员与调试系统交互的窗口;调试主机102是运行高层调试工具101的计算机,102解析101的调试命令,并且将解析后的调试命令的信息c1发送给协议转换器103;103将c1转化为调试接口和调试逻辑105可接受具有一定时序信息的调试命令c2,105根据c2对被调试的SoC芯片104进行调试,之后返回调试信息a1,a1经过103转化为102可以接收的信息,最终调试人员通过交互窗口101得到调试信息。其中如果调试主机102发出的调试信息可以直接被调试接口105识别,那么协议转换器103可以省略,调试接口和调试逻辑105集成在SoC内部,调试接口105和104共同组成支持调试的SoC电路。显而易见,不同调试接口的信号时序不同,因此SoC调试系统的设计主要包括协议转换器103和调试接口和调试逻辑105的设计。
目前业界主要存在两种基于硬件的SoC调试系统。一种是ARM公司开发的基于JTAG的调试模块,一种是美国GAISLER实验室开发的基于UART串口的调试支持模块DSU(Dubug Support Units)。
图1所示的调试接口和调试逻辑105在如今的ARM处理器中的结构如图2中的200所示。由图2可知ARM处理器主要包括三个部分:ARM主要的处理器逻辑205、嵌入式调试模块201、符合IEEE1149.1的TAP控制器203。205包含了基本的处理器及对调试的支持逻辑;201包括一组寄存器和比较器,寄存器用来控制调试、反应调试状态、设置断点等,比较器产生异常;203通过标准的JTAG接口访问和控制各个扫描链。图2中的扫描链202、扫描链204及扫描链206是为了支持硬件调试而插入的,其中扫描链202长度为38位,高6位为寄存器地址域,低32位为数据域,该扫描链是专门用来访问201内的寄存器。通过访问201内的寄存器,可以让ARM处理器进入调试状态、设置断点、设置观察点。通过扫描链206可以访问ARM处理器的外围电路,包括数据总线,该扫描链的长度为113位,其中包括数据总线0-31位、内核控制信号、201的控制信号及地址总线的31-0位。扫描链204是206的一部分,而且只有33位,包括数据总线的32位及BREAKPT位,利用该扫描链可以更快地插入指令和数据插入到ARM核内部。另外,ARM还提供了三个信号S1、S2、S3,其中S1输入到205,为调试请求DBGREQ,通过置其为1,可以迫使ARM进入调试状态;S3从205输回到201,为调试响应DBGACK,通过读S3可判断当前ARM核是否处于调试模式;S2输入205,为断点信号BREAKPT,控制ARM核进入调试状态的时机。
ARM的调试原理简要如下:通过在图1所示的102上运行ARM的调试工具101,然后通过103JTAG协议转换器,将调试信息送到图2所示的203TAP控制器,通过203更新201内部的寄存器,调试相关的寄存器,同时将需要的访问地址或者要执行的程序通过204更新至数据总线,当S3DBGACK有效时,ARM就执行相关的调试命令,然后通过相应的扫描链将调试结果通过203的TDO串口移出去。然后经过图1示的a1、a2返回到调试主机,供调试人员观察。
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