[发明专利]一种应用于透明材质的分层氮化硅SiNxOy成膜方法无效
申请号: | 201210467701.7 | 申请日: | 2012-11-19 |
公开(公告)号: | CN102942308A | 公开(公告)日: | 2013-02-27 |
发明(设计)人: | 彭钰;李冬;郭元元 | 申请(专利权)人: | 天津市中环高科技有限公司 |
主分类号: | C03C17/34 | 分类号: | C03C17/34 |
代理公司: | 天津中环专利商标代理有限公司 12105 | 代理人: | 莫琪 |
地址: | 300385 天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 应用于 透明 材质 分层 氮化 sinxoy 方法 | ||
技术领域
本发明涉及表面装饰技术,特别涉及一种应用于透明材质的分层氮化硅SiNxOy成膜方法,使用分层SiNxOy成膜代替传统消影ITO(Nb2O5)膜,使透明材质的产品提高穿透率,降低反射率,达到消除视觉上ITO(透明导电薄膜)导电层的反射亮点的效果。
背景技术
随着触摸屏在科技、商业以及日常生活的广泛应用, 触摸屏使用量增多,尤其是在高中端市场,高透过率、高灵敏度的触摸屏的良好使用体验效果,促使大家对的触摸屏的高透过率、高灵敏度等特性进行研发。
在现有技术中,提高透明玻璃的透过率、减少反射的传统方法是:使用含有稀有金属Nb的物质,使用溅射方式在透明玻璃表面成膜,从而使透明玻璃达到提高透过率、减少反射的效果。
由于稀有金属Nb(铌)资源有限,此方式会对人类赖以生存的生态环境照成破坏,生产成本较高。为改善此种情况,需要一种采用普通材料替代含有稀有金属Nb物质在透明材质表面成膜的新工艺,比如采用氮化硅SiNxOy成膜,现在国内所有厂商均使用含稀有金属Nb的靶材,以溅射方式来完成减少透明材料反射,目前,国内文献中尚未有在透明材质表面使用分层SiNxOy成膜工艺的报道,也没有应用分层SiNxOy成膜工艺改善的透明材质透过率及减少反射的数据的报道。
发明内容
本发明的目的就是针对透明材质的成膜工艺的需要,提供一种应用于透明材质的分层氮化硅SiNxOy成膜方法,使用SiNxOy层和SiO2 层来减少反射方法,不仅能提高透明材质透过率、减少反射,而且能充分利用现有机械设备进行工业化生产,从而提高工业设备使用效率,降低原材料成本,提供产品竞争力。
本发明是通过这样的技术方案实现的:一种应用于透明材质的分层氮化硅SiNxOy成膜方法,其特征在于,以透明材料为基板材料,采用沉积薄膜的方法在基板材料表面沉积两层SiO2 膜层和一层SiNxOy膜层;通过SiNxOy层和SiO2 层光学膜系配比设计(入射光和反射光通过不同膜层之间折射率的不同,产生出不同的光学效果),经分层氮化硅(SiNxOy)的成膜,使透明玻璃成品的透过率提高、反射率减小,所述方法包括如下次序步骤:
步骤一、选取素透明材质基板或带透明导电膜层的透明材质为基板材料;
步骤二、在基板材料表面沉积第一SiO2 膜层、第二SiO2 膜层和SiNxOy膜层,根据在基板材料沉积三个膜层的顺序不同,形成三种膜层结构的产品,其中:
第一种膜层结构的产品的沉积膜层的顺序为:
a) 首先在基板材料表面沉积第一SiO2 膜层,厚50~400nm,镀膜工艺条件电压300V~500V,通入工艺气体包含N2(氮气),O2(氧气),Ar(氩气), SiO2 膜层单层折射率为1.6~2.1之间;
b) 在经过镀膜工艺生成的第一SiO2 膜层表面沉积第二SiO2膜层,膜厚50~400nm,镀膜工艺条件电压300V~500V,通入工艺气体包含N2(氮气),O2(氧气),Ar(氩气),SiO2 膜层单层折射率为1.6~2.1之间;
c) 在经过镀膜工艺生成的第二SiO2膜层表面沉积SiNxOy膜层,厚度为30~500nm,通入工艺气体包含N2(氮气),O2(氧气),Ar(氩气);SiNxOy膜层单层折射率为1.6~2.1之间;三层膜层综合折射率为1.5~2.0;x>0,0<y<2;其中x是:SiNxOy分子式中N原子的数目;y是:SiNxOy分子式中O原子的数目,使用玻璃时成品量测透过率大于91%,测试光学透过率时使用的光波长是550nm;
第二种膜层结构的产品的沉积膜层的顺序为:
a) 首先在基板材料上表面沉积第一SiO2 膜层,厚50~400nm,镀膜工艺条件电压300V~500V,通入工艺气体包含N2(氮气),O2(氧气),Ar(氩气);SiO2 膜层单层折射率为1.6~2.1之间;
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