[发明专利]一种二维电子罗盘数据的取得方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及传感器领域，更具体地说，涉及一种二维电子罗盘数据的取得方法及装置。

背景技术

在电子产品呈爆炸式增长的今天，竞争的压力导致电子研发对成本的考虑越来越多，因此很多产品都极度压低主控芯片的主频和功耗，甚至直接定制芯片，芯片的性能被发挥到极致，这对软件编程提出了一定的要求；在电子产品智能化的过程中，越来越多的传感器被加入电子产品中，软件编写者必须考虑到主控的性能和传感器的算法，以达到最优化的设计。在这种背景下，探索传感器的优化算法就很有意义，比如，光学传感器所涉及的图像压缩算法，已经在现在的电子产品中占有相当大的比重，可以说是现代电子产品不可或缺的一部分，所带来的经济效益是不可估量的。

通常而言，如果主控性能不是很好，要加入传感器并实现算法是有困难的，尤其是在一些以控制为主的单片机中，乘法运算会占用比较多的处理时间，要加入算法就更困难，即使是一些简单的传感器，也需要时间去做优化。

当前对传感器的算法设计，比较通用的方法是数学建模，其次是依靠数学方法直接推导出理想化的公式，在程序中实现并做补偿。通常的二维电子罗盘算法是基于椭圆参考的算法设计，由于乘法和除法运算比较多，所以其公式复杂、计算步骤比较多，导致一些性能不高的主控难以实现，因此必须做优化。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述公式复杂、计算步骤较多的缺陷，提供一种公式简单、计算步骤较少的二维电子罗盘数据的取得方法及装置。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种二维电子罗盘数据的取得方法，所述二维电子罗盘包括第一传感器和第二传感器，所述方法包括如下步骤：

A）使所述二维电子罗盘的第一传感器和第二传感器在水平面内旋转，分别读取所述第一传感器测量的第一磁场强度和第二传感器测量的第二磁场强度的值，并保存所述第一磁场强度及第二磁场强度的最大值和最小值； 

B）判断所述旋转的圈数是否小于预先设定的圈数，如是，返回步骤A）继续读取所述第一传感器测量的第一磁场强度和第二传感器测量的第二磁场强度的值；否则，停止所述旋转并执行步骤C）；

C）根据所述第一磁场强度及第二磁场强度的最大值和最小值，分别取得所述第一磁场强度偏移量及第二磁场强度偏移量；

D）分别读取所述第一传感器当前测量的第一实际磁场强度和第二传感器当前测量的第二实际磁场强度的值，并将所述第一实际磁场强度减去所述第一磁场强度偏移量得到第一磁场强度校正值，将所述第二实际磁场强度减去所述第二磁场强度偏移量得到第二磁场强度校正值；

E）依据所述第一磁场强度校正值和第二磁场强度校正值取得所述二维电子罗盘所附载体的显示屏正方向与地磁北方向的夹角，并由所述夹角取得所述二维电子罗盘所附载体的指示针的指示方向。

在本发明所述的二维电子罗盘数据的取得方法中，所述步骤C）进一步包括：

C1）将所述第一磁场强度的最大值和最小值进行相加得到第一之和；

C2）将所述第一之和除以2得到所述第一磁场强度偏移量；

C3）将所述第二磁场强度的最大值和最小值进行相加得到第二之和；

C4）将所述第二之和除以2得到所述第二磁场强度偏移量；

上述步骤中，先顺序执行所述步骤C1）和C2）再顺序执行所述步骤C3）和C4），或先顺序执行所述步骤C3）和C4）再顺序执行所述步骤C1）和C2）。

在本发明所述的二维电子罗盘数据的取得方法中，所述步骤C）中除以2是通过在单片机中进行右移1位实现的。

在本发明所述的二维电子罗盘数据的取得方法中，所述步骤A）进一步包括：

A1）设定第一变量、第二变量、第三变量和第四变量；

A2）使所述二维电子罗盘的第一传感器和第二传感器在水平面内旋转，分别读取所述第一传感器测量的第一磁场强度和第二传感器测量的第二磁场强度的值，并将所述第一磁场强度的值分别赋值给所述第一变量和第二变量，将所述第二磁场强度的值分别赋值给所述第三变量和第四变量；

A3）继续分别读取所述第一传感器测量的第一磁场强度和第二传感器测的第二磁场强度的值；

A4）判断当前第一磁场强度的值是否大于所述第二变量的值，如是，将当前第一磁场强度的值赋值给第二变量并保存；否则，执行步骤A5）；

A5）判断当前第一磁场强度的值是否小于所述第一变量的值，如是，将当前第一磁场强度的值赋值给第一变量并保存；否则，执行步骤A6）；