[发明专利]测量系统

权利要求书

1.一种测量系统，其特征在于，包括：

暗室，所述暗室包括：

屏蔽箱体；

吸波材料层，所述吸波材料层设在所述屏蔽箱体的内壁上；和

多个测量天线，多个所述测量天线设在所述屏蔽箱体的内壁上且适于与所述屏蔽箱体外面的电缆相连；

托具，所述托具设在所述屏蔽箱体内用于承载被测件；以及

测量仪器，所述测量仪器设在所述屏蔽箱体外面且通过电缆与所述测量天线相连。

2.根据权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述屏蔽箱体为球形。

3.根据权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述屏蔽箱体为柱状且所述屏蔽箱体的横截面为圆形或正多边形。

4.根据权利要求3所述的测量系统，其特征在于，所述正多边形的边数为N，且N≥3。

5.根据权利要求4所述的测量系统，其特征在于，所述正多边形的边数N为12，且所述测量天线的数量为5个。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的测量系统，其特征在于，所述多个测量天线中的任意两个在所述屏蔽箱体的径向上彼此错开。

7.根据权利要求6所述的测量系统，其特征在于，所述屏蔽箱体限定有纵轴线，所述多个测量天线布置在与所述屏蔽箱体的纵轴线正交的同一平面内。

8.根据权利要求7所述的测量系统，其特征在于，所述多个测量天线的第一端安装在所述屏蔽箱体的内壁上且位于以所述屏蔽箱体的纵向中心线为圆心的同一圆周上。

9.根据权利要求8所述的测量系统，其特征在于，所述多个测量天线的第二端位于以所述屏蔽箱体的纵向中心线为圆心的同一圆周上。

10.根据权利要求7所述的测量系统，其特征在于，所述多个测量天线中的任意两个测量天线的轴向彼此相交。

11.根据权利要求1-10中任一项所述的测量系统，其特征在于，所述吸波材料层的内表面为齿状面。

12.根据权利要求11所述的测量系统，其特征在于，所述吸波材料层的内表面上的齿为离散分布的正多棱锥状齿。

13.根据权利要求11所述的测量系统，其特征在于，所述多个测量天线被覆盖在所述吸波材料层内。

14.根据权利要求11所述的测量系统，其特征在于，所述多个测量天线的第一端安装在所述屏蔽箱体的内壁上且所述多个测量天线的第二端从所述吸波材料层露出。

15.根据权利要求14所述的测量系统，其特征在于，所述多个测量天线的第二端延伸超出所述吸波材料层的内表面预定距离。

16.根据权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述屏蔽箱体的外壁上设有用于容纳所述电缆且沿所述屏蔽箱体的周向延伸的电缆槽。

17.根据权利要求16所述的测量系统，其特征在于，所述电缆槽上设有槽盖。

18.根据权利要求1所述的测量系统，其特征在于，还包括转动组件，所述转动组件设在所述屏蔽箱体外面且与所述托具相连以驱动所述托具在所述屏蔽箱体内转动。

19.根据权利要求18所述的测量系统，其特征在于，所述转动组件包括：

转轴，所述转轴的一端可旋转地安装在所述屏蔽箱体的壁内，所述托具安装在所述转轴的所述一端；和

驱动电机，所述驱动电机与所述转轴的另一端相连。

20.根据权利要求19所述的测量系统，其特征在于，所述被测件为无源被测件，所述被测件与依次穿过所述转轴和所述托具的供电电缆相连。

21.根据权利要求18所述的测量系统，其特征在于，所述托具与所述转动组件的连接处套设有波导管。

22.根据权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述托具由可透射电磁波的材料制成。

23.根据权利要求22所述的测量系统，其特征在于，所述托具由聚苯乙烯制成。

24.根据权利要求18-23中任一项所述的测量系统，其特征在于，还包括外部容器，所述暗室、所述托具和所述测量仪器设在所述外部容器内。