[发明专利]测量系统

说明书

技术领域

本发明涉及测量技术领域，尤其是涉及一种用于无线通信性能参数测量的测量系统。

背景技术

移动终端在进行入网测试时要按照CTIA（移动通信网络协会）标准进行通信性能的测试。根据CTIA的标准，在以被测件为球心的球面上，在不同空间位置对被测件进行测量后，将所有测试结果综合计算得出相应指标。用于这种测试的测量系统通常需要特定的测试环境，例如需要使用微波暗室，用于消除环境噪音对测量结果造成的影响。

现有微波暗室的屏蔽箱体通常为长方体形状，在暗室内设置圆环形天线支架，天线（也称为测量天线）沿周向均匀地设在所述圆环形天线支架上。

上述暗室存在以下问题：首先，由于在暗室内设置圆环形天线支架，增加了元件数量，提高了成本，圆环形天线支架占据了暗室内的空间，并且圆环形天线支架会反射暗室内的电磁波，由此降低了测量精度。为了降低圆环形天线支架对电磁波的反射，需要在圆环形天线支架上设置吸波材料，从而进一步导致制造复杂，成本增加。

其次，由于天线沿周向均匀地设在所述圆环形天线支架上，暗室内的在径向上相对位置上的天线处于完全对射的方向，特别在安装方向性较好的天线时，不仅增加了电磁反射（由裸露在吸波材料外的天线导致），而且当天线距离过近时会引起天线间的耦合干扰作用，严重影响测量效果，为此必须增大暗室的尺寸，限制了暗室的小型化，导致现有的暗室体积大、成本高、移动性差，使用不便。现有的小暗室，例如小于4米的暗室，虽然尺寸减小，但是测量精度差。

再次，由于天线环形支架设在屏蔽箱体内，与天线相连的通信电缆也都在屏蔽箱内部走线。通信电缆作为众所周知的强测量干扰源，会大大降低测量的精度。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决上述技术问题之一或至少提供一种有用的商业选择。为此，本发明的一个目的在于提出一种测量系统，所述测量系统具有制造成本低、占用空间小、可以小型化、极大地提高测量的精度和一致性等优点。

为了实现上述目的，根据本发明的实施例提出一种测量系统。所述测量系统包括：暗室，所述暗室包括：屏蔽箱体；吸波材料层，所述吸波材料层设在所述屏蔽箱体的内壁上；和多个测量天线，多个所述测量天线设在所述屏蔽箱体的内壁上且适于与所述屏蔽箱体外面的电缆相连；托具，所述托具设在所述屏蔽箱体内用于承载被测件；以及测量仪器，所述测量仪器设在所述屏蔽箱体外面且通过电缆与所述测量天线相连。

根据本发明实施例的测量系统，通过将吸波材料层和多个测量天线设置在屏蔽箱体的内壁上，且测量仪器与测量天线之间的电缆设在屏蔽箱体外面，可以充分地利用屏蔽箱体的承载功能，无需在屏蔽箱体内设置环形天线支架。由此不仅可以节省环形天线支架的制造成本，而且可以消除由环形天线支架引起的电磁遮挡和电磁反射对无线通信测量造成的误差，提高了测量的精度和一致性。

而且，通过将多个测量天线设置在屏蔽箱体的内壁上，从而可以将与测量天线相连的电缆全部设置在屏蔽箱体的外部，由此屏蔽箱体可以将与测量天线相连的电缆产生的电磁辐射完全屏蔽掉，以避免电缆产生的电磁辐射干扰屏蔽箱体的内部测量环境。也就是说，通过将电缆全部设置在屏蔽箱体的外部，从而可以显著地消除屏蔽箱体内部存在的噪声源，由此可以提高测量的精度和一致性。

此外，由于吸波材料层和多个测量天线设置在屏蔽箱体的内壁上，因此吸波材料层的内表面（射频终止面）、测量天线的内表面和屏蔽箱体的内壁在空间上可以几乎重合。由此不仅可以极大地减小测量天线的内表面与屏蔽箱体的内壁之间占用的空间，而且围绕在测量天线周围的吸波材料层可以有效地消除屏蔽箱体内干扰无线通信测量的电磁反射，进一步提高无线通信测量的精度和一致性。

因此，根据本发明实施例的暗室具有制造成本低、占用空间小、可以小型化，便于移动，使用方便，提高了测量的精度和一致性等优点。

另外，根据本发明上述实施例的测量系统还可以具有如下附加的技术特征：

根据本发明的一个实施例，所述屏蔽箱体为球形。

根据本发明的一个实施例，所述屏蔽箱体为柱状且所述屏蔽箱体的横截面为圆形或正多边形。

根据本发明的一个实施例，所述正多边形的边数为N，且N≥3。

根据本发明的一个实施例，所述正多边形的边数N为12，且所述测量天线的数量为5个。