[发明专利]用于存储器验证的内部数据比较

说明书

技术领域

本公开涉及数据存储的领域，并且特别是涉及用于存储器验证的内部数据比较。

背景技术

闪存是可以被电擦除和重新编程的非易失性计算机存储设备的一种形式。它从常规的电可擦除可编程只读寄存器（EEPROM）发展而来，并且在相当大的块可以被重写有新数据之前这些块被擦除。

在存储卡、通用串行总线（USB）闪存盘、固态硬盘以及类似产品中使用某些类型的闪存，用于数据的一般存储和传输。允许随机存取以及因此允许直接代码执行的其它类型的闪存作为较老的EPROM的替换物以及作为某些类型的ROM应用的可选物而被使用。闪存的示例性应用包括个人计算机、PDA、数字音频播放器、数码相机、手机、合成器、视频游戏、科学仪器、工业机器人、医疗电子设备等。除了是非易失性的之外，闪存还提供快速的读访问时间。它的机械抗震性、它的高耐用性、能够抵抗高压、高温、浸水等导致在便携式设备中比硬盘更加普及。

当写闪存（即，擦除数据块并将数据重新编程到该块）时，可能期望验证写操作是成功且准确的。常规的闪存设计没有用于执行对写入数据进行内部验证的方法。在这些设计中，在闪存在其上被实例化的系统或者芯片级、在闪存的外部执行刚刚对被写入的数据的验证。在该验证期间，刚刚写入的数据通常在固件控制下通过低带宽接口发送到机载微控制器。这通常花费许多时钟周期来完成，并且可能导致包含闪存的系统的性能减弱。

发明内容

在一个实施方式中，本发明提供一种方法，包括：

通过处理设备将数据编程到非易失性存储器阵列的行中；以及

在所述非易失性存储器阵列内部验证所述数据被成功地编程。

在另一个实施方式中，本发明提供一种装置，包括：

处理设备；以及

非易失性存储器阵列，其被耦合到所述处理设备，所述非易失性存储器阵列包括：

多个存储单元，其被布置为一行或者多行；以及

内部验证电路，其验证数据被成功地编程到所述多个存储单元。

在又一个实施方式中，本发明提供一种方法，包括：

将来自非易失性存储器阵列的存储单元的值读取到读出放大器中；

将存储在所述读出放大器中的值读取到输出总线上；

通过比较电路来将所述输出总线上的值与对应于所述存储单元的高电压页锁存器中的值相比较；以及

如果所述输出总线上的值匹配所述高电压页锁存器中的值，则生成对所述非易失性存储器阵列的编程操作是成功的指示。

附图简述

本公开作为例子而不是作为限制在附图的图中被示出。

图1是示出根据实施方式的用于存储器验证的内部数据比较的示例性系统的方框图。

图2是示出根据实施方式的使用用于存储器验证的内部数据比较的非易失性存储器阵列的方框图。

图3是示出根据实施方式的使用用于存储器验证的内部数据比较的非易失性存储器阵列的示例性分区（slice）的方框图。

图4A和4B是示出根据实施方式的用于压缩用于存储器验证的内部数据比较的结果的压缩电路的逻辑图。

图5是示出根据实施方式的用于存储器验证的内部数据比较的方法的流程图。

图6是示出根据实施方式的用于存储器验证的内部数据比较的方法的流程图。

图7是示出根据实施方式的计算机系统的一个实施方式的方框图。

具体实施方式

为了提供对本发明的若干实施方式的较好理解，下面的描述阐述了许多特定的细节，例如特定的系统、组件、方法等的实施例。然而，对于本领域中的技术人员将明显的是，本发明的至少一些实施方式可以在没有这些特定的细节下被实践。在其它的实例中，为了避免不必要地使本发明难理解，众所周知的组件或者方法没有被详细描述或者以简单的方框图形式被示出。因此，所阐述的特定的细节仅仅是示例性的。特定的实现可以不同于这些示例性的细节，并且仍然被设想在本发明的范围内。