[发明专利]MIMO无线终端的无线性能测试方法有效
| 申请号： | 201210508842.9 | 申请日： | 2012-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN103856272B | 公开（公告）日： | 2017-09-05 |
| 发明（设计）人： | 于伟;漆一宏 | 申请（专利权）人： | 深圳市通用测试系统有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/391 | 分类号： | H04B17/391;H04B17/327;H04B17/15;H04B17/29;H04B7/0413 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 | 代理人： | 张大威 |
| 地址： | 518102 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | mimo 无线 终端 性能 测试 方法 | ||
1.一种MIMO无线终端的无线性能测试方法，其特征在于，所述被测MIMO无线终端具有多个天线，被测MIMO无线终端放置于微波暗室中，所述方法包括以下步骤：
A、获得所述被测MIMO无线终端的多个天线的天线方向图信息；
B、根据所述被测MIMO无线终端的天线方向图信息与预先设定的MIMO信道传播模型融合，产生测试信号，根据所述测试信号和测量信道传递矩阵获得测试用发射信号；
C、将所述测试用发射信号馈入至微波暗室的多个测量天线之中，并通过所述测量天线向所述无线终端发射以对所述无线终端进行测试。
2.如权利要求1所述的无线终端的无线性能测试方法，其特征在于，所述测试用发射信号与测试信号满足如下关系：
aij＝G(tx_antj,ij)+Pij+G(rx_anti,ij),i＝1,2,...m；j＝1,2...n，
其中，MT1至MTn为所述测试用发射信号，S1至Sm分别为所述测试信号，aij为第j发射天线的输入端口到第i接收天线的输出端口的路径复增益；G(tx_antj,ij)为第j发射天线指向第i接收天线方向的增益；G(rx_anti,ij)为第i接收天线朝向第j发射天线方向的增益；Pij为从第j发射天线到第i接收天线的空间路径损耗，m为无线终端的天线的个数，n为暗室里的测试天线的个数。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市通用测试系统有限公司，未经深圳市通用测试系统有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210508842.9/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
