[发明专利]用于轴承滚道中心轴向位置测量的装置及其测量方法

权利要求书

1.一种用于轴承滚道中心轴向位置测量的装置，其特征在于：所述的装置包括主尺（1）以及安装在主尺（1）上的基准游标（2）与测量游标（3），所述基准游标（2）与测量游标（3）均可沿主尺（1）往返移动；所述基准游标（2）与测量游标（3）上方均设有用于在主尺（1）上固定的锁紧部件（4），且基准游标（2）下端设有基准卡脚（21），测量游标（3）下端安装固定有至少下部呈圆弧面的测量环（31），所述测量环（31）径向与基准卡脚（21）在同一条直线上，且可与基准卡脚（21）相接触，所述基准卡脚（21）与测量环（31）相接触的端面与主尺（1）相垂直；所述测量游标（3）、基准游标（2）与主尺（1）上均设有刻度。

2.根据权利要求1所述的用于轴承滚道中心轴向位置测量的装置，其特征在于：所述测量环（31）下部圆弧面的弧度大于180度，并以圆弧面的圆心处为固定点安装在测量游标（3）下端的测量卡脚（32）上，且测量游标（3）上的0刻度线位置与圆弧面的圆心处相对应；所述测量环（31）圆弧面边缘的任意一点到固定点的距离均相等。

3.根据权利要求2所述的用于轴承滚道中心轴向位置测量的装置，其特征在于：所述测量游标（3）上的0刻度位置与测量环（31）圆弧面的圆心在同一条与主尺（1）相垂直的纵向直线上。

4.根据权利要求2所述的用于轴承滚道中心轴向位置测量的装置，其特征在于：所述测量环（31）通过螺钉（5）、螺母（6）及垫圈（7）安装在测量游标（3）下端的测量卡脚（32）上。

5.根据权利要求1所述的用于轴承滚道中心轴向位置测量的装置，其特征在于：所述测量环（31）的轴向横截面下端设有一斜面（311）。

6.根据权利要求1所述的用于轴承滚道中心轴向位置测量的装置，其特征在于：所述基准游标（2）与测量游标（3）设有基准卡脚（21）与测量环（31）的另一端均设有调整装置（8），用于在基准游标（2）与测量游标（3）锁紧后进行位移微调。

7.根据权利要求1所述的用于轴承滚道中心轴向位置测量的装置，其特征在于：所述主尺（1）上的刻度为在确定0刻度线位置后，以相等的分度值分别向0刻度线位置的两端延伸。

8.一种权利要求1至7所述用于轴承滚道中心轴向位置测量的装置的测量方法，其特征在于所述测量方法包括如下步骤：

步骤A、将测量游标（3）上的刻度按照其下端安装测量环（31）圆弧面的实际半径值与主尺（1）上的基准刻度值对齐，并通过锁紧部件（4）锁紧测量游标（3）；

步骤B、移动基准游标（2），并使其下端的基准卡脚（21）与测量环（31）相接触，然后通过锁紧部件（4）锁紧基准游标（2）；

步骤C、松开测量游标（3）上的锁紧部件（4）并朝主尺（1）的另一端移动，将基准卡脚（21）上与测量环（31）的接触端面贴紧轴承工件的外侧面；

步骤D、将测量游标（3）移动至轴承工件的滚道附近，将其下端安装的测量环（31）圆弧面同时与所述滚道的两侧相接触，此时测量游标（3）上的指定刻度位置距离主尺（1）上的基准刻度位置的距离，即为轴承工件滚道中心轴向位置的实际尺寸。

9.根据权利要求8所述用于轴承滚道中心轴向位置测量的装置的测量方法，其特征在于：所述步骤A中将测量游标（3）上的刻度按照测量环（31）圆弧面的实际半径值与主尺（1）上的基准刻度值对齐的方式为，使测量游标（3）移动至其0刻度线位置到主尺（1）上0刻度线位置的距离，与测量环（31）圆弧面的实际半径值相等。

10.根据权利要求8所述用于轴承滚道中心轴向位置测量的装置的测量方法，其特征在于：所述的步骤A与步骤C中锁紧测量游标（3）与基准游标（2）在锁紧后，还通过调整装置（8）对其在主尺（1）上的锁紧位置进行微调；所述步骤D中测量游标（3）上的指定刻度位置为0刻度线，且主尺（1）上的基准刻度位置也为0刻度线；所述轴承工件滚道中心轴向位置的实际尺寸为测量游标（3）上的0刻度线位置到主尺（1）上0刻度线位置的距离，加上测量游标（3）上完全对应主尺（1）上其中一条刻度线的刻度线，与其0刻度线位置的距离乘以测量装置的最小精度后的值之和。