[发明专利]采用特征定位器测量的方法和装置在审
申请号: | 201210543968.X | 申请日: | 2012-09-17 |
公开(公告)号: | CN103150322A | 公开(公告)日: | 2013-06-12 |
发明(设计)人: | R·E·加维三世;J·P·加茨;P·W·格雷斯 | 申请(专利权)人: | 艾默生电气公司 |
主分类号: | G06F17/30 | 分类号: | G06F17/30 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 史新宏 |
地址: | 美国密*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 采用 特征 定位器 测量 方法 装置 | ||
1.一种利用可编程测量仪器对感兴趣区域进行特别测量的方法,包括:
在该特别测量期间由操作者选择用于数据收集的多个电子数据要素需求;
电子地监视由操作者使用可编程测量仪器获得的多个初级数据要素记录;
电子比较所述多个初级数据要素记录与所述多个电子数据要素需求;
与用于所述测量的所述多个电子数据要素需求相比,识别至少一个丢失数据要素记录;
电子地查阅电子经验数据库和对于操作者获取关于如何使用所述可编程测量仪器获得所述至少一个丢失数据要素需求的至少一个指令;
电子地监视由所述操作者使用所述可编程测量仪器获得的至少一个初级附加数据要素记录;
电子比较所述至少一个初级附加数据要素记录与所述至少一个丢失数据要素需求;以及
当所述初级数据要素记录和所述至少一个初级附加数据要素记录的组合符合所述数据要素需求时,电子建议所述操作者。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述经验数据库包括从由包括以下数据的组中选择的电子可访问格式的数据:
a.关于在测量期间典型使用的感测仪器化装置的方面的数据;
b.关于在测量期间典型使用的测量条件和技术的方面的数据;
c.关于在测量期间典型使用的制图信息系统的可访问方面的数据;
d.关于在测量期间使用的可访问定位或追踪或边界参考信息的数据;
e.在测量期间用于追踪的参考数据;和
f.以上两种或以上的组合。
3.根据权利要求1所述的方法,其中电子地查阅电子经验数据库和获取至少一个指令的步骤包括:
识别从由合适大小、形式、功能、配置、操作和技术规范组成的组中选择的感兴趣区域的特征;
比较所述至少一个丢失数据要素与所述特征;和
基于所述至少一个丢失数据要素和所述特征的所述比较获取所述至少一个指令。
4.根据权利要求1所述的方法,其中电子地查阅电子经验数据库和获取至少一个指令的步骤包括:
比较所述感兴趣区域中的感兴趣目标和所述至少一个丢失数据要素,和
基于所述至少一个丢失数据要素和所述感兴趣区域中的所述感兴趣目标的所述比较获取所述至少一个指令。
5.根据权利要求1所述的方法,其中电子地查阅经验电子数据库和获取至少一个指令的步骤包括:
比较所述感兴趣区域中的感兴趣点和所述至少一个丢失数据要素,和
基于所述至少一个丢失数据要素和所述感兴趣区域中的感兴趣点的所述比较获得所述至少一个指令。
6.根据权利要求1所述的方法,其中电子地查阅电子经验数据库和获取至少一个指令的步骤包括:
比较所述感兴趣区域的边界信息特性和所述至少一个丢失数据要素;和
基于所述至少一个丢失数据要素和所述感兴趣区域的所述边界信息特性的所述比较获取所述至少一个指令。
7.一种操作者使用编程测量仪器进行测量的方法,包括:
在所述测量仪器中产生换能器信号;
电子比较所述换能器信号和经验数据库来识别感兴趣目标;
使用编程逻辑提示所述操作者解释所述感兴趣目标的识别精确性;
使用编程逻辑记录关于感兴趣目标的操作者解释发现;和
报告所记录的发现。
8.根据权利要求7所述的方法,其中经验数据库进一步包括一个或多个包括一种或多种以电子可访问格式的以下类型信息数据的数据库:
a.包含关于在测量期间典型使用的感测仪器化装置的方面的逻辑数据的经验数据库;
b.包含关于在测量期间典型使用的测量条件和技术的方面的逻辑数据的经验数据库;
c.包含关于在测量期间典型使用的制图信息系统的逻辑可访问方面的经验数据库;
d.包含关于在测量期间使用的逻辑可访问定位或追踪或边界参考信息的经验数据库;和
e.包含在测量期间用于跟踪的逻辑参考数据的经验数据库。
9.一种收集关于测量仪器的显示器中所描绘场景的信息的方法,包括:
在所述显示器的场景中定义感兴趣点;
从所述场景收集感测的数据,其中邻近所述感兴趣点的较大量数据被收集,以及远离所述感兴趣点的较少量数据被收集。
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