[发明专利]采用特征定位器测量的方法和装置在审

专利信息
申请号: 201210543968.X 申请日: 2012-09-17
公开(公告)号: CN103150322A 公开(公告)日: 2013-06-12
发明(设计)人: R·E·加维三世;J·P·加茨;P·W·格雷斯 申请(专利权)人: 艾默生电气公司
主分类号: G06F17/30 分类号: G06F17/30
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 史新宏
地址: 美国密*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 采用 特征 定位器 测量 方法 装置
【说明书】:

技术领域

本公开涉及区域的检查和测量(surveillance)。更具体地,本公开涉及采用手持式感测装置来定位缺陷或者其它独特特征的区域检查的方法和系统。

背景技术

许多建设、拆毁、施工、维修、保护性维修和预防性维修的实践需要对装备、器材以及地面的表面和子表面特征检查。通常这些检查由操作者使用手持式或至少便携式的检查仪器进行。这种检查的目的通常包括感兴趣项目的定位以及所述项目的操作状况的评估。通常,难以定位项目,难以确保正确的项目被定位,并且难以收集必要且足以准确及全面评估所述项目的状况的数据。因此,需要的是改进的用于进行区域测量的系统。

发明内容

本公开提供了一种采用可编程测量仪器进行感兴趣区域的特别测量的方法。所述方法典型地包括步骤:在所述特别测量期间通过操作者选择用于数据收集的多个电子数据要素需求;以及电子监视由操作者使用可编程测量仪器获得的多个初级数据要素记录。所述方法通常包括:电子比较所述多个初级数据要素记录与所述多个电子数据要素需求;与用于所述测量的所述多个电子数据要素需求相比,识别至少一个丢失数据要素记录。所述方法也可以包括步骤:电子地查阅电子经验数据库和对于操作者获得关于如何使用所述可编程测量仪器获得所述至少一个丢失数据要素需求的至少一个指令。所述方法可以进一步包括电子地监视由所述操作者使用所述可编程测量仪器获得的至少一个初级附加数据要素记录,和电子比较所述至少一个初级附加数据要素记录与所述至少一个丢失数据要素需求。所述方法也可以包括:当所述初级数据要素记录和所述至少一个初级附加数据要素记录的组合符合所述数据要素需求时,电子建议所述操作者。

也提供了一种操作者使用编程测量仪器进行测量的方法,其中所述方法包括:在所述测量仪器中产生换能器信号;和电子比较所述换能器信号和经验数据库来识别感兴趣目标。所述方法一般也包括步骤:使用编程逻辑来提示所述操作者解释所述感兴趣目标的识别精确性;和使用编程逻辑来记录关于感兴趣目标的操作者解释发现;和报告所记录的发现。

一种收集关于测量仪器的显示器中所描绘场景的信息的进一步方法,包括步骤:在所述显示器的场景中定义感兴趣点;和从所述场景收集感测的数据,从而邻近所述感兴趣点的较大量数据被收集,以及远离所述感兴趣点的较少量数据被收集。

也提供了一种使用具有编程逻辑的编程测量仪器进行测量来定位感兴趣点或定位感兴趣目标的方法。所述方法一般包括:使用至少一个感测换能器来产生至少一个感测信号响应;和使用所述编程逻辑来访问至少一个经验数据库和访问所述至少一个感测信号响应,以及访问相关信息。所述方法可以进一步包括:处理至少一个感测信号响应以产生从所述至少一个感测信号响应的至少一部分获得的感测特性信息;和然后使用编程逻辑对所述感测特性信息进行操作和对所述至少一个编程经验数据库进行操作以便向操作者推荐至少一个建议发现。所述方法可以进一步包括:使用所述编程逻辑对所述相关信息进行操作以便以相关联的相关信息标记发现的记录;和使用所述编程逻辑图形地显示所述邻近的几何或制图表示,所述邻近的表示示出所述至少一个建议发现以帮助操作者定位所述感兴趣点或所述感兴趣项目。

进一步提供一种用于使用具有编程逻辑的编程测量仪器进行测量以便定位感兴趣点或者定位感兴趣目标的方法。此处,所述方法包括:使用至少一个感测换能器来产生至少一个感测信号响应;和然后使用所述编程逻辑来处理所述至少一个感测信号响应以便产生从所述至少一个感测信号响应的至少一部分获得的感测特性信息。所述方法一般继续使用编程逻辑进行所述感测特性信息的数学统计控制分析或统计分布分析,且然后使用编程逻辑来比较所述数学统计控制分析或所述统计分布分析与期望结果,并且如果所述比较建议假阳性或假阴性指示则提示所述操作者。

附图说明

参见与附图组合的详细说明书,众多优点是显而易见的,其中元件不按比例来更清楚地展示细节,其中在多个视图中相似的参考标记指示相似的元件。其中:

图1为手持式测量仪器例如定位器的某一示意图;

图2为非对称图像信息在焦平面上的轴对称投影;

图3为非对称图像信息在焦平面上的椭圆投影;

图4展示了将非对称图像信息投影在感光焦平面上的单透镜的图;

图5为将非对称图像信息投影在焦平面上的多透镜配置的某一示意图;

图6为用于包括同轴变焦的在场(in-field)检查的测量仪器的某一示意图;

图7为用于报告测量发现的场景和显示器的某一示意图;

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