[发明专利]电子元件移载装置、电子元件操作装置以及电子元件测试装置有效

专利信息
申请号: 201210569791.0 申请日: 2012-12-25
公开(公告)号: CN103185813A 公开(公告)日: 2013-07-03
发明(设计)人: 中嶋治希;菊池裕之;山下毅 申请(专利权)人: 株式会社爱德万测试
主分类号: G01R1/02 分类号: G01R1/02;G01R31/00;G01R31/28
代理公司: 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 代理人: 高占元
地址: 日本东京都练*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 电子元件 装置 操作 以及 测试
【权利要求书】:

1.一种电子元件移载装置,用于在托盘间移换被测电子元件,包含:

具有用于保持所述被测电子元件的多个保持构件、

用于为所述保持构件提供导向的无端的轨道、以及

用于使所述保持构件在所述轨道上移动的移动构件的搬送装置;

所述保持构件可在所述轨道上绕该轨道全周移动。

2.根据权利要求1所述的电子元件移载装置,其特征在于,

在所述轨道上,多个所述保持构件之间的间隔可变。

3.根据权利要求1所述的电子元件移载装置,其特征在于,

所述移动构件,独立于所述保持构件。

4.根据权利要求1所述的电子元件移载装置,其特征在于,

包含用于将所述被测电子元件从第1托盘移载至所述保持构件的第1移载构件,以及

用于将所述被测电子元件从所述保持构件移至第2托盘的第2移载构件。

5.根据权利要求1所述的电子元件移载装置,其特征在于,

所述导轨具有在垂直方向翻折的反转部。

6.根据权利要求5所述的电子元件移载装置,其特征在于,包括:

在所述被测电子元件的端子朝下或朝上的姿势下,从第1托盘将所述被测电子元件移载至所述保持构件的第1移载构件,以及

在所述端子朝上或朝下的姿势下,从所述保持构件将所述被测电子元件移载至第2托盘的第2移载构件。

7.根据权利要求6所述的电子元件移载装置,其特征在于,

所述轨道具有在所述端子朝下的姿势下使所述保持构件水平移动的第1水平部,以及在所述端子朝上的姿势下使所述保持构件水平移动的第2水平部;

所述反转部包含连接所述第1水平部的一端与所述第2平部一端之间的第1反转部,以及连接所述第2水平部的另一端以及所述第1水平部另一端之间的第2反转部;

所述移动构件具有将所述保持构件从所述第1水平部的另一端向一端移动的第1移动部、将所述保持构件从所述第2水平部的一端向另一端移动的第2移动部,以及沿着所述第2反转部将所述保持构件从所述第2水平部的另一端向所述第1水平部的另一端移动的第3移动部。

8.根据权利要求5所述的电子元件移载装置,其特征在于,

所述保持构件具有在所述保持构件反转的状态下也能保持所述被测电子元件的保持机构。

9.根据权利要求1所述的电子元件移载装置,其特征在于,

所述搬送装置包含通过在所述保持构件与所述轨道之间介有压缩流体以使所述保持构件从所述轨道上浮的上浮构件。

10.根据权利要求1所述的电子元件移载装置,其特征在于,

一边的所述托盘为用户托盘或者测试托盘,

另一边的所述托盘为测试托盘或者用户托盘。

11.一种电子元件操作装置,为测试所述被测电子元件而将所述被测电子元件装载于测试托盘上并搬送,并将所述被测电子元件推压于测试头的接触部,其特征在于,包含:

将测试前的被测电子元件从用户托盘移载至测试托盘的如权利要求1~10中任一项所述的第1电子元件移载装置,或者

将测试后的被测电子元件从测试托盘移载至用户托盘的如权利要求1~10中任一项所述的第2电子元件移载装置中的至少一个。

12.一种电子元件测试装置,用于测试被测电子元件,其特征在于,包含:

测试头,

如权利要求11所述的将所述被测电子元件推压于所述测试头的接触部的电子元件操作装置,以及

电连接于所述测试头的测试器。

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