[发明专利]多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统有效
| 申请号： | 201210569823.7 | 申请日： | 2012-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN103063407A | 公开（公告）日： | 2013-04-24 |
| 发明（设计）人： | 赵利刚;刘华;袁海骥 | 申请（专利权）人： | 科纳技术(苏州)有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215121 江苏省苏州市工业园区启明路15*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 通道 双折射 液晶 衰减 波纹 测试 系统 | ||
【权利要求书】：
1.多通道电控双折射液晶衰减波纹测试系统，其特征在于：包括光源模块、光学平台、待测多通道电控双折射液晶及其夹、治具、45度偏振片、平面反射镜、环形器、光谱分析仪及测试程序，其中光源模块作为宽带光源，宽带光源经过光学平台入射到带有夹、治具的待测多通道电控双折射液晶上，45度偏振片用于从多通道电控双折射液晶产生不同偏振光的衰减改变，平面反射镜用于反射不同偏振态的宽带光，该光再经过光学平台，经由环形器接收到光谱分析仪，光谱分析仪用于测量多通道电控双折射液晶的插入衰减损耗，整个测试系统的数据采集和数据分析是通过Labview平台独立开发的测试程序进行自动控制。
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