[发明专利]薄膜晶体管有效

专利信息
申请号: 201210573691.5 申请日: 2012-12-26
公开(公告)号: CN103904126A 公开(公告)日: 2014-07-02
发明(设计)人: 曾坚信 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L29/24
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 薄膜晶体管
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种薄膜晶体管。

背景技术

随着工艺技术的进步,薄膜晶体管已被大量应用在显示器之中,以适应显示器的薄型化和小型化等需求。薄膜晶体管一般包括栅极、漏极、源极以及沟道层等组成部分,其通过控制栅极的电压来改变沟道层的导电性,使源极和漏极之间形成导通或者截止的状态。

氧化铟镓锌(Indium Gallium Zinc Oxide, IGZO)薄膜晶体管目前已经被广泛的研究和应用在液晶面板上,特别是高解析度和大尺寸面板。但因IGZO薄膜易受外部环境的温度、氧含量、水汽、光照等环境因素影响,因此,在采用溅镀工艺制备IGZO薄膜时,制程中的等离子会对IGZO薄膜产生损害,进而影响IGZO薄膜晶体管的电流开关比、表面载流子浓度等参数,使得薄膜晶体管品质不高。

发明内容

有鉴于此,有必要提供一种较佳品质的薄膜晶体管。

一种薄膜晶体管,包括基板、设置在基板上的栅极、设置在基板上且覆盖栅极的栅绝缘层、覆盖在栅绝缘层表面的氧化铟镓锌沟道层、以及设置在沟道层表面的氧化镓锌层,该氧化镓锌层的相对两侧形成有源极和漏极。

在本发明提供的薄膜晶体管中,由于氧化镓锌层中没有铟原子存在,因此载流子无法使用铟原子的5s轨道形成电传导,且氧化镓锌层中镓原子位于晶格间隙之间形成一散射中心,使氧化镓锌层中晶体结构产生形变,同时镓原子也会抑制氧缺陷(Oxygen Vacancy)的形成,因此可以有效降低薄膜载流子浓度,减低表面漏电流,使薄膜晶体管的电流开关比获得较佳改善。

附图说明

图1是本发明第一实施例提供的薄膜晶体管的结构示意图。

图2是本发明实施例提供的薄膜晶体管的氮化镓锌层的结构示意图。

图3是本发明第二实施例提供的薄膜晶体管的结构示意图。

图4是本发明第三实施例提供的薄膜晶体管的结构示意图。

主要元件符号说明

薄膜晶体管10、20、30基板11栅极12栅绝缘层13沟道层14氧化镓锌层15氧化镓锌半导体层150、152、154、156源极16漏极17

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。

具体实施方式

请参见图1,本发明第一实施例提供的薄膜晶体管10包括基板11,栅极12,栅绝缘层13,沟道层14,氧化镓锌(GaZnO)层15,源极16以及漏极17。

该基板11用于承载栅极12以及栅绝缘层13。该基板11的制作材料可为玻璃、石英、硅晶片、聚碳酸酯、聚甲基丙烯酸甲酯或金属箔等。

该栅极12设置在基板11的表面。在本实施例中,所述栅极12设置在基板11的中心区域。栅极12的制作材料选自铜、铝、镍、镁、铬、钼、钨及其合金。

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