[发明专利]整机柜功耗测试方法有效
| 申请号： | 201210576489.8 | 申请日： | 2012-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN103018545A | 公开（公告）日： | 2013-04-03 |
| 发明（设计）人： | 刘洪梅;王纯;刘秋江;张家军 | 申请（专利权）人： | 北京百度网讯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R21/00 | 分类号： | G01R21/00 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 宋合成 |
| 地址： | 100085 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 整机 功耗 测试 方法 | ||
1.一种整机柜功耗测试方法，其特征在于，包括如下步骤：
设置多个环境温度，其中，所述环境温度为所述整机柜的封闭的冷通道的温度；
获取所述整机柜的多个节点的配置信息，并检测每个所述节点的配置信息是否符合配置测试要求，生成配置测试数据；
获取所述整机柜的多个节点的温度信息，并将每个所述节点的温度信息与预设标准温度信息进行比较以判断所述节点的温度是否异常，生成温度测试数据；
获取所述整机柜的多个节点的压力信息，并将每个所述节点的压力信息与预设标准压力信息进行比较以判断所述节点的压力是否符合压力测试要求，生成压力测试数据；以及
在所述节点的压力符合所述压力测试要求下，测量压力运行第一预设时间后的不同环境温度下的所述整机柜的功耗。
2.如权利要求1所述的整机柜功耗测试方法，其特征在于，所述多个环境温度分别为25摄氏度、30摄氏度、35摄氏度。
3.如权利要求1所述的整机柜功耗测试方法，其特征在于，所述配置信息包括所述整机柜的每个所述节点的中央处理器CPU的型号及容量、硬盘的型号及容量和内存的型号及容量。
4.如权利要求1所述的整机柜功耗测试方法，其特征在于，所述获取所述整机柜的多个节点的温度信息，包括获取所述整机柜的多个节点的入风口的温度信息。
5.如权利要求1所述的整机柜功耗测试方法，其特征在于，每隔第二预设时间获取所述整机柜的多个节点的温度信息。
6.如权利要求5所述的整机柜功耗测试方法，其特征在于，所述第二预设时间为5分钟。
7.如权利要求1所述的整机柜功耗测试方法，其特征在于，每个所述节点的温度信息包括中央处理器的温度、内存的温度、进风口的温度和集成南桥PCH的温度。
8.如权利要求1所述的整机柜功耗测试方法，其特征在于，每个所述节点的压力信息包括中央处理器的压力、内存的压力和硬盘的压力。
9.如权利要求1所述的整机柜功耗测试方法，其特征在于，所述第一预设时间为5-10分钟。
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