[发明专利]检测RAM生产缺陷的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种检测RAM生产缺陷的方法。

背景技术

宏观的RAM（Random Access Memory，随机存储器）测试包括存储单元的测试、数据线测试和地址线测试。对于控制线，由于对前两者的测试中已经附带完成，因此不做专门测试。而地址线的测试总是在假设数据线正常的情况下进行的，显然需要先进行数据线的测试，然后才能进行地址线的测试。

随着集成电路规模的增大和集成度的提高，系统中RAM的数量越来越多，宽度和深度也各不相同，对其测试也需要进行细化。以往要完成对系统中RAM的测试，所采用的测试方法均不能一次测全所有的缺陷，不仅增加了测试的时间，而且增加了测试复杂度和测试成本。

在集成电路的生产过程中，由于工艺技术或者其他原因，容易造成电路中RAM的缺陷。

目前RAM的基本生成缺陷如下：

◆Stuck-At Fault ( SAF，固定型故障 )：RAM中的某一位固定为1或者0，无法写入相反的值；或者说RAM电路中的某条连线本来应该根据其源节点的取值而取值，但由于存在某种故障，其逻辑值固定为0或1；如果线wr上有固定为0的故障，则记为wr(s-a-0)，如果有固定为1的故障，则记为wr(s-a-1)。

◆Stuck-Open Fault (SOpF，固定开路故障)：RAM中某一单元，由于线的断裂，无法对其进行操作

◆Transition Fault ( TF，传输错误)：即对RAM中的某一位写入0时，其实际写入的是1，或者写入1时，其实际写入的是0。

◆Idempotent Coupling Fault（CFid，幂等耦合故障）：对待测RAM中某一位进行操作时，如果该位写入的数值与原来该位的数值不同，就会发生跳变，而这个跳变过程可能对其相邻的位产生影响，可能导致相邻位变为1或者0状态。因此，CFid共分为四种类型：<↑| 0 >，<↑| 1 >，<↓|0 >，<↓|1 >。

向上箭头代表由0跳变为1，向下箭头代表由1跳变为0。

◆State Coupling Fault（CFst，状态耦合故障）：对待测RAM中某一位进行操作时，该位处于某种状态，例如处于1或者0状态时，可能导致相邻位发生相应的变化，即可能变为1或者0状态。因此，CFst也分为四种类型：<1;1>，<1;0>，<0;1>，<0;0>。

◆Inversion Coupling Fault（CFin，逆耦合故障）：对待测RAM中的某一位进行操作时，其无论如何跳变，即由1跳变为0或者有0跳变为1，都会引起相邻某位的值的改变。例如待测RAM中的某一位原值为0，然后对其写入1，这个时候其相邻的某位可能就由0变为1，当对该位再写入0时，相邻的某位就又由1变回了0。因此，CFin分为两种类型：<↑| x>，<↓|x>。向上箭头代表由0变为1，向下箭头代表由1变为0。

◆Address Fault (AF，地址故障)：对待测RAM中的某一地址进行操作时，可能操作的不是希望的地址，而变成了别的地址。

◆Byte_Enable Fault（BEF，字节使能错误）：RAM中的byte_enable控制位可能相连，或者固定为某一个数值1或0。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种能够提高测试效率的检测集成电路中RAM生产缺陷的方法。

本发明采用以下技术方案：

一种检测RAM生产缺陷的方法，该方法包括以下步骤：

1）对待测试RAM所有地址各位写入0；

在以下的步骤中以地址为操作对象，且此后各步骤在当前地址完成当前步骤的测试后进入下一地址的测试，直到遍历整个RAM后进入下一个步骤的测试，直至完成RAM的测试：

2）读取RAM当前地址存放的值，若含有1的位，则终止检测，报错；若全是0位，则对该地址各位写入1，然后读取该地址存放的值，若含有0的位，则终止检测，报错；若全是1位，则对该地址各位写入0，然后读取该地址存放的值，若含有1的位，则终止检测，报错；若全是0位，则对该地址各位写入1；

3）读取RAM当前地址存放的值，若含有0的位，则终止检测，报错；若全是1位，则对该地址各位写入0，读取该地址存放的值，若含有1的位，则终止检测，报错；若全是0位，则对该地址各位写入1。