[发明专利]一种RFID读写器芯片中测系统及方法

权利要求书

1.一种RFID读写器芯片中测系统，其特征在于：包括：

探针台，用于对被测芯片自动对针、跳针和完成探针测试；

中央控制器，用于根据各指令信号控制执行指定的运算或操作；

上位机，用于控制各个部件协同工作，以及让操作人员监控整个测试过程；

RFID卡，用于与芯片阅读器进行通信；

芯片阅读器，用于通过与RFID卡进行通信进而对被测芯片进行性能测试；

所述的探针台分别与中央控制器和芯片阅读器相连接，所述上位机分别与中央控制器和芯片阅读器相连接，所述芯片阅读器还与RFID卡连接。

2.根据权利要求1所述的一种RFID读写器芯片中测系统，其特征在于：所述的探针台包括：

探针，用于引出被测芯片的接点；

第一TTL电平接口，用于与中央控制器通信；

控制模块，用于控制探针台中各个部件的运作；

显示屏，用于显示BIN信号和被测芯片的测试结果；

所述的探针与芯片阅读器连接，所述第一TTL电平接口与中央控制器连接，所述控制模块分别与探针和第一TTL电平接口相连接，所述控制模块的输出端连接显示屏的输入端。

3.根据权利要求2所述的一种RFID读写器芯片中测系统，其特征在于：所述的中央处理器包括：

第二微控制器，用于与上位机进行通信和对信号进行转换；

FPGA控制板，用于对数字信号进行处理；

光耦隔离电路，用于电平转换和噪声隔离；

第二TTL电平接口，用于与探针台进行通信；

所述的第二微控制器与上位机连接，所述第二微控制器还依次通过FPGA控制板、光耦隔离电路和第二TTL电平接口进而与第一TTL电平接口连接。

4.根据权利要求2所述的一种RFID读写器芯片中测系统，其特征在于：所述的芯片阅读器包括：

第一微控制器，用于与上位机进行通信和对测试数据进行分析；

芯片测试座，用于连接被测芯片，使被测芯片与RFID卡进行通信；

32Pins接口，用于与探针进行通信；

射频天线，用于连接在芯片测试座与RFID卡之间；

所述第一微处理器与上位机连接，所述第一微控制器依次通过芯片测试座和32Pins接口进而与探针连接。

5.一种RFID读写器芯片中测方法，其特征在于，包括以下步骤：

A、探针台向中央处理器发出开始测试信号；

B、中央处理器响应探针台发出的开始测试信号，并通过上位机对芯片阅读器发出测试请求；

C、芯片阅读器与RFID卡进行通信测试，并将测试结果和测试结束信号通过上位机反馈给中央控制器；

D、中央处理器处理测试结果并将测试结束信号发送给探针台；

E、探针台显示被测芯片的测试结果。

6.根据权利要求5所述的一种RFID读写器芯片中测方法，其特征在于：所述的步骤B包括：

B1、第二TTL电平接口接收到开始测试信号；

B2、FPGA控制板对经光耦隔离电路处理后的开始测试信号采样；

B3、FPGA控制板对采样后的开始测试信号进行确认，并向第二微控制器发出测试请求；

B4、第二微控制器通过上位机向芯片阅读器发出测试请求。

7.根据权利要求5所述的一种RFID读写器芯片中测方法，其特征在于：所述的步骤C包括：

C1、第一微控制器接收测试请求；

C2、被测芯片发送调制信号到射频天线，进而激活进入射频天线磁场的RFID卡后，RFID卡与被测芯片进行双向通信以实现对被测芯片进行性能测试；

C3、第一微控制器根据测试得到的数据判断测试结果，并将测试结果和测试结束信号通过上位机反馈给中央处理器。

8.根据权利要求5所述的一种RFID读写器芯片中测方法，其特征在于：所述的步骤D包括：

D1、第二微控制器将接收到的测试结果和测试结束信号转换为BIN信号、REJ信号和EOT信号，并发送给FPGA控制板；

D2、FPGA控制板将接收到的BIN信号、REJ信号和EOT信号转换为数字信号，并通过光耦隔离电路和第二TTL电平接口发送到探针台。

9.根据权利要求5所述的一种RFID读写器芯片中测方法，其特征在于：所述的测试结果包括测试通过的芯片数、测试失败的芯片数和良率。