[发明专利]一种太阳能电池片镀膜的方法有效
申请号: | 201210585663.5 | 申请日: | 2012-12-31 |
公开(公告)号: | CN103022259A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 谢余才;陈刚刚 | 申请(专利权)人: | 宁夏银星能源股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;C23C16/44;C23C16/34 |
代理公司: | 宁夏专利服务中心 64100 | 代理人: | 赵明辉 |
地址: | 750021 宁夏回族*** | 国省代码: | 宁夏;64 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 太阳能电池 镀膜 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种太阳能电池片镀膜的方法。
背景技术
太阳能是一种重要的清洁能源,太阳能电池片是把太阳能转化成电能的装置,太阳能电池片生产工艺比较复杂,为了减少太阳光的反射,通常采取的方法是在太阳能电池片上镀减反射膜。通过PECVD(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition,等离子体增强化学气相沉积法)技术在太阳能电池片的表面表面沉积一层氮化硅膜,工作原理是高频电流使含有薄膜组成原子的气体电离,在局部形成等离子体,化学活性很强的等离子很容易发生反应,在基片上形成所需要的薄膜。能够很好的减少太阳光在硅片表面的反射,降低反射率。
但是现有的工艺不能够满足21片石墨舟的要求,会出现色差、发红片、尤其在炉口表现的尤为严重,最终会影响电池的转化效率。
发明内容
本发明的目的是提供一种太阳能电池片镀膜的方法,能够使得膜色符合工艺要求,基本杜绝发红片现象。
一种太阳能电池片镀膜的方法,其特别之处在于,包括如下步骤:
(1)将插好硅片的21片石墨舟送进炉管;
(2)抽真空,至炉管内压力达到35毫托;
(3)通入氨气,使炉管内压力达到1600毫托,温度控制在425℃,放电200秒;
(4)抽真空,至压力达到35毫托时,通入氮气,再抽真空,重复两次后恢复常压;
(5)抽真空,至压力达到35毫托时,通入氨气,使得炉管内压力达到1600毫托,温度控制在425℃,预沉积150秒,再通入硅烷,至压力稳定在1600毫托,持续放电700秒;
(6)停止通气,抽真空,至压力达到35毫托时,通入氮气,再抽真空,重复两次后恢复常压;
(7)卸料即可。
控制反应温度保持在420-430℃,硅烷氨气比为800∶7000,反应压力控制在1600毫托-1800毫托。
放电功率调整到6300-6500w,脉冲开关比例调整为4∶45-47。
通入氮气6000sccm,时间20秒。
采用本发明的方法后,可以很好的解决PECVD工序中产生的红片,色差片问题,使得膜色符合工艺要求。
具体实施方式
实施例1:
一种太阳能电池片镀膜的方法,包括如下步骤:
(1)将插好硅片的21片石墨舟送进炉管(管式PECVD镀膜设备);
(2)抽真空,至炉管内压力达到35毫托;
(3)通入氨气,使炉管内压力达到1600毫托,温度控制在425℃,放电200秒;
(4)抽真空,至压力达到35毫托时,通入氮气6000sccm,时间20秒,再抽真空,重复两次后恢复常压;
(5)抽真空,至压力达到35毫托时,通入氨气,使得炉管内压力达到1600毫托,温度控制在425℃,预沉积150秒,再通入硅烷,至压力稳定在1600毫托,持续放电700秒;
(6)停止通气,抽真空,至压力达到35毫托时,通入氮气6000sccm,时间20秒,再抽真空,重复两次后恢复常压;
(7)卸料即可。
反应中控制反应温度保持在425℃,硅烷氨气比为800∶7000,反应压力控制在1600毫托,放电功率调整到6500w,脉冲开关比例调整为4∶47。
最终形成的氮化硅薄膜的厚度在84nm左右,片间均匀性±4%,批间均匀性±4%,没有出现色差、发红片现象。
实施例2:
一种太阳能电池片镀膜的方法,包括如下步骤:
(1)将插好硅片的21片石墨舟送进炉管;
(2)抽真空,至炉管内压力达到35毫托;
(3)通入氨气,使炉管内压力达到1600毫托,温度控制在425℃,放电200秒;
(4)抽真空,至压力达到35毫托时,通入氮气6000sccm,时间20秒,再抽真空,重复两次后恢复常压;
(5)抽真空,至压力达到35毫托时,通入氨气,使得炉管内压力达到1600毫托,温度控制在425℃,预沉积150秒,再通入硅烷,至压力稳定在1600毫托,持续放电700秒;
(6)停止通气,抽真空,至压力达到35毫托时,通入氮气6000sccm,时间20秒,再抽真空,重复两次后恢复常压;
(7)卸料即可。
反应中控制反应温度保持在425℃,硅烷氨气比为800∶7000,反应压力控制在1600毫托,放电功率调整到6300w,脉冲开关比例调整为4∶45。
最终形成的氮化硅膜厚在82nm左右,片间均匀性±4%,批间均匀性±4%,没有出现色差、发红片现象。
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