[发明专利]基于MBI5039芯片的发光二极管失效检测电路及检测方法

权利要求书

1.基于MBI5039芯片的发光二极管失效检测电路，其特征在于，所述检测电路包括：

恒压电源，所述恒压电源为MBI5039芯片、单片机以及待检测发光二极管提供稳定恒压工作源；

至少一个MBI5039芯片，所述MBI5039芯片控制连接待检测发光二极管，实现对待检测发光二极管工作电流的恒流控制、增益控制以及发光二极管开路或短路失效侦测，并将侦测到的信息传至单片机；

单片机，所述单片机给MBI5039芯片发送控制逻辑信号，并接收和处理MBI5039芯片发送的侦测到的失效信息；

显示单元，所述显示单元接收并显示单片机处理好的信息结果。

2.根据权利要求1所述的基于MBI5039芯片的发光二极管失效检测电路，其特征在于，所述恒压电源提供DC5V的恒压源。

3.根据权利要求1所述的基于MBI5039芯片的发光二极管失效检测电路，其特征在于，所述MBI5039芯片若为多个，它们之间串接并与单片机连接形成以回路。

4.基于MBI5039芯片的发光二极管失效检测方法，其特征在于，所述检测方法包括如下步骤：

（1）恒压电源先对单片机供电，单片机先进行自检和初始化工作，此时所有的待检测发光二极管均不发光；

（2）单片机完成初始化工作后，发出一组控制数据送到MBI5039芯片，设置发光二极管的工作电流增益、失效侦测的触发模式和发光二极管短路侦测的电压阀值；

（3）单片机发出一组显示数据至MBI5039芯片，MBI5039芯片根据显示数据点亮待检测发光二极管；

（4）在点亮发光二极管同时，MBI5039芯片自动侦测每个电流通道在芯片内部产生的电压降，如果有电流通道所产生的电压降不在预设的阀值内，则通过数据输出端口送出一串电压脉冲，并传至单片机；

（5）单片机接收MBI5039芯片输出的电压脉冲串，通过计数及转换运算，从而得到发光二极管的失效个数并送显示单元进行信息显示。