[发明专利]基于MBI5039芯片的发光二极管失效检测电路及检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及发光二极管电路技术，具体涉及发光二极管失效检测技术。

背景技术

随着半导体技术的飞速发展，发光二极管（LED）已广泛应用于照明、发光显示和指示等产品中。

由于发光二级管的特点，其在使用时一般采用阵列式的方式进行设置，以达到良好的使用效果。具体如道路信号灯、各种广告指示牌等等。

由于长时间的使用，发光二极管阵列中的某些发光二极管会出现失效无法工作，这样影响整个发光二极管阵列的使用效果。针对这种情况过去只有整体更换发光二极管阵列，这将大大增加成本。

因此正常工作过程中发光二极管阵列的失效检测和故障信息提示日益成为相关产品设计着重考虑的问题。

正常工作过程中发光二极管的失效状态分为开路和短路两种状态，现有的技术只能检测发光二极管在短路状态下的失效个数并进行信息提示，到目前为止还没有一种检测技术可以实现正常工作过程中发光二极管阵列中的发光二极管随机处于开路或短路两种失效状态时的在线检测和故障信息提示。

发明内容

本发明针对现有技术中无法检测发光二极管处于开路失效状态的问题，而提供一种基于MBI5039芯片的发光二极管失效检测电路以及基于该检测电路的检测方法。本发明提供的方案能够在线检测正常工作过程中发光二极管阵列中发光二极管随机处于开路或短路两种失效状态，并进行故障信息提示。

为了达到上述目的，本发明采用如下的技术方案：

基于MBI5039芯片的发光二极管失效检测电路，该检测电路包括：

恒压电源，所述恒压电源为MBI5039芯片、单片机以及待检测发光二极管提供稳定恒压工作源；

至少一个MBI5039芯片，所述MBI5039芯片控制连接待检测发光二极管，实现对待检测发光二极管工作电流的恒流控制、增益控制以及发光二极管开路或短路失效侦测，并将侦测到的信息传至单片机；

单片机，所述单片机给MBI5039芯片发送控制逻辑信号，并接收和处理MBI5039芯片发送的侦测到的失效信息；

显示单元，所述显示单元接收并显示单片机处理好的信息结果。

在检测电路的优选实例中，所述恒压电源提供DC5V的恒压源。

进一步的，所述MBI5039芯片若为多个，它们之间串接并与单片机连接形成以回路。

基于上述检测电路的发光二极管失效检测方法，其包括如下步骤：

（1）恒压电源先对单片机供电，单片机先进行自检和初始化工作，此时所有的待检测发光二极管均不发光；

（2）单片机完成初始化工作后，发出一组控制数据送到MBI5039芯片，设置发光二极管的工作电流增益、失效侦测的触发模式和发光二极管短路侦测的电压阀值；

（3）单片机发出一组显示数据至MBI5039芯片，MBI5039芯片根据显示数据点亮待检测发光二极管；

（4）在点亮发光二极管同时，MBI5039芯片自动侦测每个电流通道在芯片内部产生的电压降，如果有电流通道所产生的电压降不在预设的阀值内，则通过数据输出端口送出一串电压脉冲，并传至单片机；

（5）单片机接收MBI5039芯片输出的电压脉冲串，通过计数及转换运算，从而得到发光二极管的失效个数并送显示单元进行信息显示。

通过上述方案对发光二极管阵列中的LED进行失效检测，可以确保无论LED是处于开路失效状态还是处于短路失效状态，都能有效地统计出发光二极管阵列中LED的失效个数。

附图说明

以下结合附图和具体实施方式来进一步说明本发明。

图1为本发明中检测电路的原理图。

具体实施方式

为了使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本发明。

本发明提供的发光二极管失效检测电路利用MBI5039芯片实现对工作过程中发光二极管阵列中的发光二极管随机处于开路或短路两种失效状态时进行在线检测和故障信息提示。

其中MBI5039是16路恒流驱动芯片,具有64阶可编程的电流增益控制,增益调整的范围从电流设定值的200％到12.5％，可用于亮度调整、温度补偿等方面。具有正常工作状态时的错误侦测功能，采用“数据进，错误出”的方式进行侦测和回报。具有温度过热的警示功能，提供系统采用必要的保护措施。

参见图1，本发明提供的整个检测电路100主要由恒压电源101、单片机102、MBI5039芯片103以及显示单元104等部分构成。