[发明专利]显示装置以及该显示装置的线缺陷的检测方法

权利要求书

1.一种显示装置，所述显示装置包括：

多条驱动电力传输线，所述多条驱动电力传输线用于向像素传送驱动电力；

至少一条缺陷检测线，所述至少一条缺陷检测线与至少一条驱动电力传输线交叉；以及

缺陷检测器，所述缺陷检测器用于向所述至少一条缺陷检测线输出缺陷检测信号，根据所述缺陷检测信号收集从缺陷检测线生成的反馈信号，并且基于所述缺陷检测信号与所述反馈信号之间的比较来确定是否在所述至少一条驱动电力传输线中存在缺陷。

2.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述至少一条缺陷检测线的数量为1，并且所述缺陷检测线与所有的所述多条驱动电力传输线交叉。

3.根据权利要求2所述的显示装置，所述显示装置还包括公共电极，所述公共电极连接到所述至少一条驱动电力传输线的一端，

其中，所述缺陷检测线位于像素所存在的像素区域与所述公共电极之间。

4.根据权利要求2所述的显示装置，所述显示装置还包括至少一个传导膜，

其中，通过所述至少一个传导膜向所述缺陷检测线提供所述缺陷检测信号，并且

通过所述至少一个传导膜向所述缺陷检测器提供所述反馈信号。

5.根据权利要求4所述的显示装置，其中，所述至少一个传导膜包括两个或更多个传导膜，

所述缺陷检测器通过所述缺陷检测器的输出端输出所述缺陷检测信号，并且通过所述缺陷检测器的输入端收集所述反馈信号，

所述缺陷检测线的一端通过一个传导膜连接到所述缺陷检测器的输出端，并且

所述缺陷检测线的另一端通过另一个传导膜连接到所述缺陷检测器的输入端。

6.根据权利要求5所述的显示装置，其中，沿所述缺陷检测线的纵向方向布置传导膜，并且

在传导膜中彼此相距最远的传导膜分别是所述一个传导膜和所述另一个传导膜。

7.根据权利要求5所述的显示装置，其中，在至少一个传导膜中嵌入用于向像素提供数据信号的数据集成电路，并且

未在其中嵌入所述数据集成电路的传导膜分别是所述一个传导膜和所述另一个传导膜。

8.根据权利要求5所述的显示装置，所述显示装置还包括：

第一连接线，所述缺陷检测线的一端与所述一个传导膜通过所述第一连接线相互连接；以及

第二连接线，所述缺陷检测线的另一端与所述另一个传导膜通过所述第二连接线相互连接，

其中，所述第一连接线和所述第二连接线形成在同一层中，并且所述第一连接线和所述缺陷检测线形成在不同的层中。

9.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述至少一条缺陷检测线的数量为2，

所述两条缺陷检测线是第一缺陷检测线和第二缺陷检测线，

所述第一缺陷检测线和所述第二缺陷检测线与所有的所述多条驱动电力传输线交叉，并且

所述第一缺陷检测线和所述第二缺陷检测线位于所述多条驱动电力传输线的不同部分。

10.根据权利要求9所述的显示装置，所述显示装置还包括：

第一公共电极，所述第一公共电极连接到所述驱动电力传输线的一端；以及

第二公共电极，所述第二公共电极连接到所述驱动电力传输线的另一端，

其中，所述第一缺陷检测线位于像素所存在的像素区域与所述第一公共电极之间，并且所述第二缺陷检测线位于所述像素区域与所述第二公共电极之间。

11.根据权利要求9所述的显示装置，所述显示装置还包括至少一个传导膜，

其中，通过所述至少一个传导膜向所述第一缺陷检测线和所述第二缺陷检测线提供缺陷检测信号，

通过所述至少一个传导膜向所述缺陷检测器提供来自所述第一缺陷检测线的反馈信号，以及

通过所述至少一个传导膜向所述缺陷检测器提供来自所述第二缺陷检测线的反馈信号。